[發明專利]晶體RPP電性能參數測試分選裝置及分選方法

在審

• 申請號: 201610202514.4
• 申請日: 2016-04-01
• 公開（公告）號: CN105642567A
• 公開（公告）日: 2016-06-08
• 發明（設計）人: 狄建興;張勇;周志勇
• 申請（專利權）人: 唐山國芯晶源電子有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 唐山永和專利商標事務所 13103
• 代理人: 張云和

1.一種晶體RPP電性能參數測試分選裝置及分選方法，包括送料裝置、測試裝置、分選裝置和控制裝置，其特征在于：送料裝置包括：

振動盤，振動盤出料口設置有傾斜的送料軌道，軌道設置有導向槽；導向槽前方依次設置有前擋針、中擋針、下擋針和底部擋針，所述前擋針和底部擋針設置在導向槽左側；前擋針和下擋針設置在導向槽的右側；所述前擋針、中擋針、下擋針和底部擋針通過連接桿與擋料汽缸相連接；

測試裝置包括：

設置在送料軌道左側設置有測試頭，測試頭后部與測試頭汽缸相連接；測試頭前端設置有彈片，彈片通過線纜與絕緣電阻測試儀相連接；

絕緣電阻測試儀與控制裝置主機相連接；

控制裝置主機分別與分選氣缸、送料氣缸和測試頭氣缸相連接；

所述送料軌道下方設置有合格產品料盒和不合格產品料盒；

分選裝置包括分選氣缸，分選氣缸前端連接有分選軌道。

2.根據權利要求1所述晶體RPP電性能參數測試分選裝置，其特征在于：合格產品料盒設置在送料軌道正下方；不合格產品料盒設置在送料軌道左側下方。

3.一種晶體RPP電性能參數測試分選裝置，包括送料裝置、測試裝置、分選裝置和控制裝置，其特征在于：送料裝置包括：

振動盤，振動盤出料口設置有傾斜的送料軌道，軌道設置有導向槽；導向槽前方依次設置有前擋針、中擋針、下擋針和底部擋針，所述前擋針和底部擋針設置在導向槽左側；前擋針和下擋針設置在導向槽的右側；

所述前擋針與前擋針氣缸相連接、中擋針與前擋針氣缸相連接、下擋針與前擋針氣缸相連接、底部擋針與前擋針氣缸相連接；

測試裝置包括：

設置在送料軌道左側設置有測試頭，測試頭后部與測試頭汽缸相連接；測試頭前端設置有彈片，彈片通過線纜與絕緣電阻測試儀相連接；

絕緣電阻測試儀與控制裝置主機相連接；

控制裝置主機分別與分選氣缸、送料氣缸和測試頭氣缸相連接；

所述送料軌道下方設置有合格產品料盒和不合格產品料盒；

分選裝置包括分選氣缸，分選氣缸前端連接有分選軌道。

4.一種晶體RPP電性能參數測試分選方法，其特征在于：包括如下步驟：

a、將待測產品放入振動盤；振動盤將待測產品送入送料軌道；待測產品沿送料軌道向下滑動；

b、送料軌道中部設置有上擋針，上擋針將待測產品攔截；

c、上擋針向右側移動，待測產品向下移動；上擋針下方設置有中擋針，中擋針向右側移動攔截待測產品；

d、中擋針向左側移動；下擋針向右側移動；待測產品向下移動；下擋針攔截待測產品；

下擋針向右側移動，待測產品向下移動，底部擋針向左側移動，底部擋針攔截待測產品；

e、測試頭汽缸動作使彈片分別和晶體個引線接觸；絕緣電阻測試儀電極對晶體引線進行放電測試，絕緣電阻測試儀將測試結果信號輸出給控制主機；

f、控制主機發出動作指令給分選汽缸，如果產品合格，分選汽缸不動作，測試頭汽缸退回左位，擋料汽缸移到左位，底部擋片向左移動，產品落入成品盒；如果產品不合格，分選汽缸動作，推動分選軌道移到右位，測頭汽缸退回左位，同時放料、擋料汽缸移到右位，產品落入分選軌道經過分選軌道落入廢品盒。