[發明專利]一種全光纖傅里葉光譜分析儀

有效

• 申請號: 201610201527.X
• 申請日: 2016-04-01
• 公開（公告）號: CN105953919B
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發明（設計）人: 苑立波;何學蘭;苑勇貴;楊軍
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01J3/45
• 分類號: G01J3/45;G01J3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種全光纖傅里葉光譜分析儀，包括待測光源(1)、連接器(2)、第一三端口光纖環行器(3)和第二三端口光纖環行器(4)、第一波分復用器(5)和第二波分復用器(6)、雙端口連接的光纖耦合器(7)、差動式光程掃描裝置(8)、窄帶半導體激光器(9)、第一差分式光電探測信號放大器(10)和第二差分式光電探測信號放大器(11)、第一可調衰減器(12)和第二可調衰減器(13)以及第一信號處理單元(14)和第二信號處理單元(15)，其特征在于：所述全光纖傅里葉光譜分析儀中待測光源(1)發出的光經由第一三端口光纖環行器后經由第一波分復用器(5)和雙端口連接的光纖耦合器(7)被注入到差動式光程掃描裝置(8)，該差動式光程掃描匹配裝置產生第一問訊光信號和第二問訊光信號，第一問訊光信號經過雙端口連接的光纖耦合器(7)、第一波分復用器(5)和第一三端口光纖環行器(3)被第二差分式光電探測信號放大器(11)所接收并放大，第二問訊光信號經過雙端口連接的光纖耦合器(7)、第二波分復用器(6)被第二差分式光電探測信號放大器(11)所接收并放大；第一問訊光信號和第二問訊光信號最后經由第二信號處理單元(15)處理給出測量結果；窄帶半導體激光器(9)發出的光經由第二三端口光纖環行器(4)經由第一波分復用器(5)和雙端口連接的光纖耦合器(7)被注入到同一個差動式光程掃描裝置(8)，再由差動式光程掃描匹配裝置產生第三問訊光信號和第四問訊光信號，第三問訊光信號經過雙端口連接的光纖耦合器(7)、第一波分復用器(5)和第二三端口光纖環行器(4)，形成均勻的干涉條紋，被第一差分式光電探測信號放大器(10)所接收并放大，第四問訊光信號經過雙端口連接的光纖耦合器(7)和第二波分復用器(6)，形成均勻的干涉條紋，被第一差分式光電探測信號放大器(10)所接收并放大，第三問訊光信號和第四問訊光信號最后經由第一信號處理單元(14)處理得到干涉信號；

差動式光程掃描裝置(8)是由第一光纖自聚焦透鏡準直器(8-1)、第二光纖自聚焦透鏡準直器(8-2)和一個雙端面全反射鏡(8-3)組成，光纖自聚焦透鏡準直器被固定在一個精密滑移臺的基座上，雙端面全反射鏡(8-3)被固定在能夠滑移的平臺上，正對著光纖自聚焦透鏡準直器，該差動式光程掃描匹配裝置通過移動雙端面全反射鏡來改變兩束問訊光信號的光程差，實現對光源光程變化的匹配測量。

2.根據權利要求1所述的一種全光纖傅里葉光譜分析儀，其特征在于：將窄帶激光光源與待測光源形成了共光路Michelson型干涉測量系統，可實現激光干涉信號對掃描光程的均勻校正。