[發(fā)明專利]一種光學(xué)系統(tǒng)測試用快速定位裝置及定位方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610200692.3 | 申請日： | 2016-03-31 |
| 公開（公告）號： | CN105841926B | 公開（公告）日： | 2018-06-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張潔;焦璐璐;張歡;趙懷學(xué);周艷;胡丹丹;薛勛;郭毅;劉峰;段亞軒;賽建剛 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號： | G01M11/00 | 分類號： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人： | 蘇蓓 |
| 地址： | 710119 陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光學(xué)系統(tǒng) 測試 快速定位裝置 測試設(shè)備 定位裝置 基準(zhǔn)鏡 自準(zhǔn)直 復(fù)現(xiàn) 光管 法線 定位準(zhǔn)確性 流水線作業(yè) 標(biāo)準(zhǔn)光學(xué) 標(biāo)準(zhǔn)姿態(tài) 傳統(tǒng)測試 調(diào)試過程 二維調(diào)整 法線方向 光學(xué)檢測 光軸平行 批量化 光軸 轉(zhuǎn)換 記錄 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所，未經(jīng)中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610200692.3/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：一種試驗(yàn)分選箱
- 下一篇：一種可換式伸縮書架
- 一種應(yīng)用程序的測試方法及系統(tǒng)
- 一種多設(shè)備測試管理裝置
- 測試系統(tǒng)
- 一種設(shè)備的檢測方法、裝置和系統(tǒng)
- 存儲設(shè)備測試方法、存儲設(shè)備測試系統(tǒng)及存儲介質(zhì)
- 測試設(shè)備控制方法、裝置、系統(tǒng)和電子設(shè)備
- 一種軟件測試方法和設(shè)備平臺及計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)
- 一種BMS電路測試系統(tǒng)及測試方法
- 一種軟件測試系統(tǒng)、方法、裝置、控制設(shè)備及存儲介質(zhì)
- 一種設(shè)備測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)
