[發明專利]靜姿雙模料位計及其測量方法

在審

• 申請號: 201610197631.6
• 申請日: 2016-03-31
• 公開（公告）號: CN105698899A
• 公開（公告）日: 2016-06-22
• 發明（設計）人: 胡桂標
• 申請（專利權）人: 上海云魚智能科技有限公司
• 主分類號: G01F23/26
• 分類號: G01F23/26;G01F23/22;G01F23/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種靜姿雙模料位計，其特征在于，包括至少兩個電極、電極檢測部件、運算處理部件、姿態響應部件以及姿態檢測部件，各所述電極和所述運算處理部件均與所述電極檢測部件電連接，所述姿態響應部件、所述姿態檢測部件以及所述運算處理部件依次連接，所述姿態響應部件與各所述電極機械連接或設置于各所述電極的附近，且在使用時各所述電極與所述姿態響應部件設置于測量空間內的待測量位置。

2.根據權利要求1所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述姿態響應部件由所述電極充當。

3.根據權利要求1所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述姿態檢測部件為以下任意一種或其組合：

加速度計、陀螺儀、傾斜傳感器、振動傳感器、限位開關、觸發電路。

4.根據權利要求1~3中任一項所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述姿態響應部件為以下任意一種或其組合：

擋片、擋錘、繩、桿、棒、鉸鏈。

5.根據權利要求1~3中任一項所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述電極檢測部件為射頻導納檢測電路和/或電容檢測電路。

6.根據權利要求1~3中任一項所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述運算處理部件為一個獨立的運算處理部件或多個運算處理部件的組合。

7.一種使用如權利要求1~6中任一項所述的靜姿雙模料位計測量料位的方法，其特征在于，

所述姿態檢測部件實時檢測所述姿態響應部件的姿態信息，并將所述姿態信息發送給所述運算處理部件；

所述電極檢測部件實時檢測各所述電極間的物理量信息，并將所述物理量信息發送給所述運算處理部件；

所述運算處理部件在所述姿態信息和所述物理量信息均達到料位消除條件時，判斷在測量范圍內無物料。

8.根據權利要求7所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述運算處理部件在所述姿態信息和/或所述物理量信息達到料位到達條件時，判斷在所述測量范圍內有物料。

9.根據權利要求7或8所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述物理量信息包括：各所述電極間的電容、各所述電極間的電勢和/或各所述電極間的介電特征量。

10.根據權利要求7或8所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述姿態信息包括：所述姿態響應部件在三維空間內的方向、位移和/或角度信息。

11.一種使用如權利要求1~6中任一項所述的靜姿雙模料位計測量料位的方法，其特征在于，

所述姿態檢測部件實時檢測所述姿態響應部件的姿態信息，并將所述姿態信息發送給所述運算處理部件；

所述電極檢測部件實時檢測各所述電極間的物理量信息，并將所述物理量信息發送給所述運算處理部件；

所述運算處理部件在所述姿態信息和所述物理量信息均達到料位到達條件時，判斷在測量范圍內有物料。

12.根據權利要求11所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述運算處理部件在所述姿態信息和/或所述物理量信息達到料位消除條件時，判斷在所述測量范圍內無物料。

13.根據權利要求11或12所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述物理量信息包括：各所述電極間的電容、各所述電極間的電勢和/或各所述電極間的介電特征量。

14.根據權利要求11或12所述的靜姿雙模料位計，其特征在于，所述姿態信息包括：所述姿態響應部件在三維空間內的方向、位移和/或角度信息。