[發明專利]用于測量光學成像系統的成像性質的裝置和方法有效
| 申請號： | 201610196132.5 | 申請日： | 2016-03-31 |
| 公開（公告）號： | CN106028024B | 公開（公告）日： | 2019-11-05 |
| 發明（設計）人： | A.魯普雷赫特 | 申請（專利權）人： | 全歐光學檢測儀器有限公司 |
| 主分類號： | H04N17/00 | 分類號： | H04N17/00;G03B43/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 申屠偉進;劉春元 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 測量 光學 成像 系統 性質 裝置 方法 | ||
【權利要求書】：
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