[發明專利]一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具在審
| 申請號: | 201610196039.4 | 申請日: | 2016-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN105717441A | 公開(公告)日: | 2016-06-29 |
| 發明(設計)人: | 張佳佳;張亞軍;李丹;張海清 | 申請(專利權)人: | 中科芯集成電路股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷紅梅;徐永雷 |
| 地址: | 214072 江蘇省無錫市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 定位 功能 用于 集成電路 測試 分選 夾具 | ||
1.一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具,包括測試底座(1)、測試支座(5)、壓塊限位塊(6)、測試壓塊(7)、測試絕緣塊(8)、壓縮彈簧(9)、導向軸(10)和測試簧片(14);所述測試支座(5)通過三維調整機構連接在測試底座(1)上,壓塊限位塊(6)安裝在測試支座(5)的頂部,壓塊限位塊(6)中間開有槽口,所述測試壓塊(7)置于壓塊限位塊(6)的槽口內并能上下移動,壓塊限位塊(6)限制著測試壓塊(7)向上移動的行程;在測試支座(5)和壓塊限位塊(6)之間安裝有兩根豎向的導向軸(10),所述測試壓塊(7)上設有兩個導孔,測試壓塊(7)通過其上的導孔與所述導向軸(10)構成滑動導向配合;壓縮彈簧(9)設置在測試支座(5)和測試壓塊(7)之間,壓縮彈簧(9)下端連接測試支座(5),壓縮彈簧(9)上端連接測試壓塊(7),測試壓塊(7)可沿導向軸(10)在壓縮彈簧(9)作用下上下往復移動;所述測試壓塊(7)頂部安裝著用于承托集成電路(16)的測試絕緣塊(8),所述測試支座(5)前后兩側分別用簧片固定組件夾緊有一個用于與集成電路(16)引腳接觸的測試簧片(14),兩個測試簧片(14)前后對稱。
2.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具,其特征在于:所述三維調整機構包括水平調節塊(2)、下豎直調節塊(3)和上豎直調節塊(4);所述水平調節塊(2)放置在測試底座(1)上并通過橫向調整組件和縱向調整組件與之連接;所述橫向調整組件安裝在測試底座(1)右端,橫向調整組件包括橫向調節螺栓(17.1)、橫向調節墊片(18.1)、橫向調節滑塊(19.1)和橫向定位銷(20.1),所述測試底座(1)右端中部設有橫向滑槽,所述橫向調節滑塊(19.1)置于橫向滑槽內,所述橫向調節墊片(18.1)固定在測試底座(1)右端面上,所述橫向螺桿螺紋連接在橫向調節墊片(18.1)上,橫向調節螺桿內端與橫向調節滑塊(19.1)螺紋連接,橫向調節螺桿旋轉時帶動橫向調節滑塊(19.1)在橫向滑槽內左右滑動;所述橫向定位銷(20.1)下端固定在橫向滑塊上,橫向定位銷(20.1)上端活動插接在水平調節塊(2)上的銷孔內;所述橫向滑塊通過橫向定位銷(20.1)與水平調節塊(2)連接;所述縱向調整組件安裝在測試底座(1)側邊,縱向調整組件包括縱向調節螺栓(17.2)、縱向調節墊片(18.2)、縱向調節滑塊(19.2)和縱向定位銷(20.2),所述測試底座(1)內設有縱向滑槽,所述縱向調節滑塊(19.2)置于縱向滑槽內,所述縱向調節墊片(18.2)固定在測試底座(1)側邊上,所述縱向螺桿螺紋連接在縱向調節墊片(18.2)上,縱向調節螺桿內端與縱向調節滑塊(19.2)螺紋連接,縱向調節螺桿旋轉時帶動縱向調節滑塊(19.2)在縱向滑槽內前后滑動;所述縱向定位銷(20.2)下端固定在縱向滑塊上,縱向定位銷(20.2)上端活動插接在水平調節塊(2)上的橫向腰形孔內;所述下豎直調節塊(3)通過第一螺栓(21)連接在水平調節塊(2)上,所述上豎直調節塊(4)通過第二螺栓(22)連接在下豎直調節塊(3)上,所述下豎直調節塊(3)上用于安裝第二螺栓(22)的孔為豎向腰形孔;所述測試支座(5)連接在上豎直調節塊(4)上。
3.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具,其特征在于:所述簧片固定組件包括簧片固定橫塊(11)和C型固定塊(12),所述簧片固定橫塊(11)和簧片C型固定塊(12)分別固定連接在測試支座(5)側面,所述測試簧片(14)夾緊在簧片固定橫塊(11)、簧片C型固定塊(12)與測試支座(5)之間。
4.如權利要求3所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具,其特征在于:所述簧片固定橫塊(11)上加工有長槽,所述簧片C型固定塊(12)的橫框上安裝有兩件能夠左右移動調整的簧片卡塊(13),兩件簧片卡塊(13)卡在測試簧片(14)兩側,通過左右橫移調整簧片卡塊(13)就可以微調測試簧片(14)的位置。
5.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具,其特征在于:所述壓塊限位塊(6)的槽口上方設有斜坡面且左右對稱。
6.如權利要求1所述的具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具,其特征在于:所述測試絕緣塊(8)的上表面設有凹槽,所述凹槽的前后邊內壁面均為斜坡面且相互對稱。
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