[發(fā)明專利]基于CT圖像的集料粒徑三維自動測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610195893.9 | 申請日： | 2016-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN105954161A | 公開（公告）日： | 2016-09-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 金燦;張衛(wèi)華;汪培松;劉凱;王鑫磊 | 申請（專利權(quán)）人： | 合肥工業(yè)大學 |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 安徽合肥華信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230009 *** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 ct 圖像 集料 粒徑 三維 自動 測量方法 | ||
【說明書】：
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