[發(fā)明專利]一種基于表面波的垂直缺陷的多系數(shù)深度檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610195694.8 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107024535B | 公開(公告)日: | 2019-08-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何存富;白金峰;鄧鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N29/04 | 分類號(hào): | G01N29/04 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
| 地址: | 100124 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 表面波 垂直 缺陷 系數(shù) 深度 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種基于表面波的垂直缺陷的多系數(shù)深度檢測(cè)方法,其特征在于:該方法包括流程如下:
步驟1:確立仿真多系數(shù)曲線
對(duì)于目標(biāo)工件的尺寸和材料參數(shù)信息,確定適宜的仿真軟件,建立合適的仿真模型;根據(jù)所需,確定缺陷深度尺寸范圍,進(jìn)行系列仿真;根據(jù)仿真模型,提取觀測(cè)點(diǎn)或面處的波形信息,用所得到的缺陷回波值、透射波值以及缺陷兩端處的模態(tài)轉(zhuǎn)換回波值除以基準(zhǔn)直達(dá)波值歸一化處理后作為縱坐標(biāo),再以缺陷深度或缺陷深度除以波長歸一化處理作為橫坐標(biāo),建立多系數(shù)缺陷深度表征曲線;
步驟2:進(jìn)行實(shí)驗(yàn)檢測(cè)
根據(jù)目標(biāo)工件的尺寸和材料參數(shù)信息以及仿真多系數(shù)曲線建立的激發(fā)頻率和激發(fā)方式,選擇合適的探頭進(jìn)行實(shí)驗(yàn);實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)包括測(cè)試工件、一激一收探頭、示波器、激勵(lì)設(shè)備;一激一收探頭與測(cè)試工件相連接,一激一收探頭通過連接線與激勵(lì)設(shè)備連接,激勵(lì)設(shè)備與示波器連接;實(shí)驗(yàn)測(cè)得測(cè)試工件的缺陷回波、透射波和缺陷兩端處的模態(tài)轉(zhuǎn)換回波,記錄得到以上四個(gè)表征缺陷深度的波形幅值;
步驟3:確定缺陷深度
根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)得的缺陷回波、透射波和缺陷兩端處的模態(tài)轉(zhuǎn)換回波四個(gè)缺陷信息,除以基準(zhǔn)值直達(dá)波得到一組四個(gè)系數(shù)值;對(duì)比仿真所得到的一組四個(gè)系數(shù)缺陷深度表征曲線,確定缺陷的深度;
多系數(shù)包括缺陷回波缺陷深度表征系數(shù)、透射波缺陷深度表征系數(shù)、缺陷左端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波缺陷深度表征系數(shù)、缺陷右端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波缺陷深度表征系數(shù);缺陷回波缺陷深度表征系數(shù)為表面波傳播過程中遇到缺陷反射回來的缺陷回波,其根據(jù)對(duì)于不同的深度缺陷反射回來的缺陷回波幅值不同而建立的缺陷回波缺陷深度表征系數(shù);透射波缺陷深度表征系數(shù)為表面波傳播過程中遇到缺陷透過缺陷繼續(xù)傳播的透射波,其根據(jù)對(duì)于不同的深度缺陷透射過去的透射波幅值不同而建立的透射波缺陷深度表征系數(shù);缺陷左端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波缺陷深度表征系數(shù)為表面波在傳播過程中,同缺陷互相作用時(shí)在缺陷下方會(huì)有散射的體波,體波傳播遇到工件的下端面會(huì)反射回來,遇到缺陷會(huì)再度轉(zhuǎn)換為沿缺陷左端傳播的表面波,其根據(jù)不同深度的缺陷缺陷左端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波幅值不同而建立的缺陷左端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波缺陷深度表征系數(shù);缺陷右端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波缺陷深度表征系數(shù)為表面波在傳播過程中,同缺陷互相作用時(shí)在缺陷下方會(huì)有散射的體波,體波傳播遇到工件的下端面會(huì)反射回來,遇到缺陷會(huì)再度轉(zhuǎn)換為沿缺陷右端傳播的表面波,其根據(jù)不同深度的缺陷缺陷右端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波幅值不同而建立的缺陷右端模態(tài)轉(zhuǎn)換回波缺陷深度表征系數(shù)。
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