[發明專利]用于檢測附著物量值的傳感器及家用電器

有效

• 申請號: 201610195103.7
• 申請日: 2016-03-30
• 公開（公告）號: CN105675502B
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 禹春圭;李勇;何新奎
• 申請（專利權）人: 廣東美的廚房電器制造有限公司;美的集團股份有限公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，包括安裝座、透鏡、電路板，以及與所述電路板均電連接的光發射件、光接收件；其中，

所述安裝座的一端設有凹部，且所述安裝座內設有與所述凹部連通的第一容腔及第二容腔；

所述透鏡的一側設有透光面，另一側設有入射面及出射面，所述透鏡安裝在所述凹部內且所述透光面外露于所述凹部；

所述光發射件安裝在所述第一容腔內且朝向所述入射面設置，所述光接收件安裝在所述第二容腔內且朝向所述出射面設置；

所述安裝座在所述第一容腔的遠離所述凹部的一端設有避位槽，所述避位槽與所述第一容腔相接，且所述避位槽的底壁面低于所述第一容腔；

所述光發射件的遠離所述透鏡的一端的周面上設有第一凸緣，所述第一凸緣與所述避位槽的靠近所述凹部的側壁面抵接。

2.如權利要求1所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述安裝座包括對置的第一座體及第二座體，所述第一座體具有朝向所述第二座體的第一配合面，所述第二座體具有朝向所述第一座體并貼合所述第一配合面的第二配合面；

所述第一配合面上開設有第一容槽及第二容槽，所述第二配合面上開設設第三容槽及第四容槽；所述第一容槽與第三容槽圍合形成所述第一容腔，所述第二容槽與第四容槽圍合形成所述第二容腔。

3.如權利要求2所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述避位槽包括設于所述第一座體的在所述第一容槽的遠離所述凹部的一側的第一避位槽，所述第一避位槽與所述第一容槽相接，且所述第一避位槽的底壁面低于所述第一容槽；

所述避位槽還包括設于所述第二座體的在所述第三容槽的遠離所述凹部的一側的第三避位槽，所述第三避位槽與所述第三容槽相接，且所述第三避位槽的底壁面低于所述第三容槽；

所述第一凸緣與所述第一避位槽的靠近所述凹部的側壁面，以及與所述第三避位槽的靠近所述凹部的側壁面抵接。

4.如權利要求3所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第三避位槽的底壁面凸設有第一限位件，所述第一限位件與所述光發射件的遠離所述透鏡的端面抵接。

5.如權利要求3或4所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第一凸緣呈環形設置，且所述第一凸緣的周面具有凸弧面及與所述凸弧面相連的定位平面，所述定位平面與所述第三避位槽的底壁面抵接。

6.如權利要求2所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第一座體在所述第二容槽的遠離所述凹部的一側設有第二避位槽，所述第二避位槽與所述第二容槽相接，且所述第二避位槽的底壁面低于所述第二容槽；

所述第二座體在所述第四容槽的遠離所述凹部的一側設有第四避位槽，所述第四避位槽與所述第四容槽相接，且所述第四避位槽的底壁面低于所述第四容槽；

所述光接收件的遠離所述透鏡的一端的周面上設有第二凸緣，所述第二凸緣與所述第二避位槽的靠近所述凹部的側壁面，以及與所述第四避位槽的靠近所述凹部的側壁面抵接。

7.如權利要求6所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第四避位槽的底壁面上凸設有第二限位件，所述第二限位件與所述光接收件的遠離所述透鏡的端面抵接。

8.如權利要求2所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第一配合面上開設有若干定位凹槽，所述第二配合面上設有與所述定位凹槽適配的定位凸起。

9.如權利要求2所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第一配合面設有卡扣件，所述第二配合面上設有與所述卡扣件適配的卡扣孔。

10.如權利要求2所述的用于檢測附著物量值的傳感器，其特征在于，所述第一座體及第二座體上均設有限位孔，所述透鏡的周面上設有與所述限位孔適配的止擋凸。