[發(fā)明專利]一種地磁校準(zhǔn)定位裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610187833.2
• 申請(qǐng)日: 2016-03-29
• 公開（公告）號(hào): CN107238808A
• 公開（公告）日: 2017-10-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 武超;黃鳴
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市藍(lán)魔數(shù)碼科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R33/02
• 分類號(hào): G01R33/02;G01R35/00
• 代理公司: 深圳眾鼎專利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙)44325
• 代理人: 朱業(yè)剛

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種地磁校準(zhǔn)定位裝置。

背景技術(shù)

地磁芯片現(xiàn)在一般都是在芯片廠在出廠前會(huì)進(jìn)行一次校準(zhǔn)，但是當(dāng)貼片在PCB板裝成整機(jī)設(shè)備后，并沒有在對(duì)不同擺放姿態(tài)下的讀取值進(jìn)行校準(zhǔn)，造成在實(shí)際的室內(nèi)定位時(shí)，智能電子設(shè)備因手持姿態(tài)的不同而出現(xiàn)比較嚴(yán)重偏差的問題。而且手機(jī)或其他智能電子設(shè)備中都存在著金屬器件，導(dǎo)致地磁傳感器不是在絕對(duì)無干擾的環(huán)境下測(cè)試地磁場(chǎng)的強(qiáng)度，電子設(shè)備在平放狀態(tài)和豎放狀態(tài)下測(cè)試出來的地磁場(chǎng)強(qiáng)度有差別，影響方向定位。目前校正電子設(shè)備地磁芯片的方法主要是通過手動(dòng)轉(zhuǎn)圈的方法進(jìn)行校正，該校正方法存在較大的不確定性，電子設(shè)備受到的振動(dòng)也會(huì)影響電子設(shè)備校正過程中的定位。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有帶地磁芯片的智能電子設(shè)備存在不同狀態(tài)下測(cè)得的地磁場(chǎng)誤差問題，本發(fā)明提供了一種地磁校準(zhǔn)定位裝置，該地磁校準(zhǔn)定位裝置能夠?qū)χ悄茈娮釉O(shè)備進(jìn)行定位，實(shí)現(xiàn)智能電子設(shè)備在不同仰角下的地磁數(shù)據(jù)采集，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償，從而使智能電子設(shè)備在不同的姿態(tài)下可以得到相同的用于定位的地磁場(chǎng)強(qiáng)度信息。

本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下：

提供一種地磁校準(zhǔn)定位裝置，包括第一旋轉(zhuǎn)架(1)、第二旋轉(zhuǎn)架(2)、支座(4)、以及用于固定智能電子設(shè)備的夾持組件(5)；所述第二旋轉(zhuǎn)架(2)設(shè)置于支座(4)上，且第二旋轉(zhuǎn)架(2)能夠以支座(4)上一固定軸線為旋轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)，所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)設(shè)置于第二旋轉(zhuǎn)架(2)的內(nèi)部，且第一旋轉(zhuǎn)架(1)能夠以第二旋轉(zhuǎn)架(2)上一軸線為旋轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)，所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)的旋轉(zhuǎn)軸和第二旋轉(zhuǎn)架(2)的旋轉(zhuǎn)軸中至少一個(gè)處于非豎直狀態(tài)，所述夾持組件(5)設(shè)置于所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)上。

進(jìn)一步的，還包括固定架(3)，所述固定架(3)為沿豎直面設(shè)置的環(huán)形結(jié)構(gòu)，所述固定架(3)的底端設(shè)置于支座(4)上；所述第二旋轉(zhuǎn)架(2)設(shè)置于所述固定架(3)的內(nèi)部，且第二旋轉(zhuǎn)架(2)的頂部與固定架(3)的頂部?jī)?nèi)壁可轉(zhuǎn)動(dòng)連接，第二旋轉(zhuǎn)架(2)的底部與固定架(3)的底部?jī)?nèi)壁可轉(zhuǎn)動(dòng)連接，第二旋轉(zhuǎn)架(2)的旋轉(zhuǎn)軸位于豎直方向。

進(jìn)一步的，所述第二旋轉(zhuǎn)架(2)為沿豎直面設(shè)置的環(huán)形結(jié)構(gòu)，所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)設(shè)置于所述第二旋轉(zhuǎn)架(2)的內(nèi)部，且第一旋轉(zhuǎn)架(1)在水平面上的兩端分別與第二旋轉(zhuǎn)架(2)的兩端內(nèi)壁可轉(zhuǎn)動(dòng)連接。

進(jìn)一步的，所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)為環(huán)形結(jié)構(gòu)，所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)內(nèi)部沿其徑向設(shè)置有第一支撐軸(11)，所述第一支撐軸(11)位于水平面上，所述第一支撐軸(11)的兩端穿過第一旋轉(zhuǎn)架(1)并連接到第二旋轉(zhuǎn)架(2)上，第一旋轉(zhuǎn)架(1)與第一支撐軸(11)可轉(zhuǎn)動(dòng)連接。

進(jìn)一步的，所述第一旋轉(zhuǎn)架(1)內(nèi)部沿其徑向設(shè)置有第二支撐軸(12)，所述第二支撐軸(12)與第一支撐軸(11)垂直設(shè)置，且第二支撐軸(12)的兩端分別連接至第一旋轉(zhuǎn)架(1)的兩端內(nèi)壁上；所述夾持組件(5)固定于所述第一支撐軸(11)和第二支撐軸(12)上。

進(jìn)一步的，所述夾持組件(5)包括測(cè)試平臺(tái)(51)、第一活動(dòng)卡條(52)和第二活動(dòng)卡條(53)，所述第一活動(dòng)卡條(52)和第二活動(dòng)卡條(53)在測(cè)試平臺(tái)(51)表面平行間隔設(shè)置。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試平臺(tái)(51)上設(shè)置有第一條形孔(511)，第二條形孔(512)、第三條形孔(513)、第四條形孔(514)和多個(gè)定位螺栓(55)，所述第一條形孔(511)和第二條形孔(512)平行設(shè)置于第一活動(dòng)卡條(52)的底部，所述第三條形孔(513)和第四條形孔(514)平行設(shè)置于第二活動(dòng)卡條(53)的底部，所述多個(gè)定位螺栓(55)分別穿過第一條形孔(511)、第二條形孔(512)、第三條形孔(513)和第四條形孔(514)對(duì)第一活動(dòng)卡條(52)和第二活動(dòng)卡條(53)進(jìn)行定位。

進(jìn)一步的，所述第一活動(dòng)卡條(52)和第二活動(dòng)卡條(53)相對(duì)的側(cè)面上均設(shè)置有柔性表層。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試平臺(tái)(51)上設(shè)置有氣泡式水平儀(54)，所述氣泡式水平儀(54)的數(shù)量為2個(gè)，分別位于測(cè)試平臺(tái)(51)的對(duì)角位置。

進(jìn)一步的，所述地磁校準(zhǔn)定位裝置還包括有底座(6)，所述支座(4)位于 底座(6)頂部。