[發(fā)明專利]一種基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610186054.0
• 申請日: 2016-03-29
• 公開（公告）號(hào): CN105699822A
• 公開（公告）日: 2016-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 范靜
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州市職業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 蘇州銘浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32246
• 代理人: 朱斌兵

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)的PCB板級EMI測試裝置是直接利用磁場探頭連接到頻譜儀，手動(dòng)對PCB進(jìn)行EMI檢測，這樣的測試方式存在著諸多問題，首先，測試效率很低，每次測試時(shí)都需要重新設(shè)置頻譜儀，不僅效率低而且容易出錯(cuò)，測試前期的準(zhǔn)備時(shí)間就相對較長；其次，數(shù)據(jù)無法保存，傳統(tǒng)的測試方法是觀察頻譜儀數(shù)據(jù)的變化，但是無法保存，也無法對測試結(jié)果有一個(gè)直觀的體現(xiàn)；最后，傳統(tǒng)測試是在開放的空間，而不是相對封閉的空間，周圍電磁環(huán)境的影響會(huì)使測試的結(jié)果受到干擾，測試結(jié)果不一定可靠。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種測試效率和精度高，測試環(huán)境可靠，且能保存測試結(jié)果的基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置，包括頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)、圖像采集模塊、電腦和磁場探頭；所述頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊分別與電腦相連；所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上一側(cè)固設(shè)有圖像采集模塊；所述圖像采集模板包括攝像頭、絲桿裝置和步進(jìn)電機(jī)；所述攝像頭設(shè)置在絲桿裝置上；所述絲桿裝置與步進(jìn)電機(jī)相連；所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部設(shè)有通過驅(qū)動(dòng)裝置可蛇型掃描位于二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上方的待測PCB的磁場探頭；所述磁場探頭與頻譜分析儀相連。

優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)、傳送帶和泡沫；所述傳送帶通過兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)蛇型移動(dòng)的設(shè)置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部；所述傳送帶上設(shè)有泡沫；所述磁場探頭固定在泡沫上表面。

優(yōu)選的，所述頻譜分析儀通過LAN網(wǎng)線與電腦相連。

優(yōu)選的，所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊通過USB接口與電腦相連。

由于上述技術(shù)方案的運(yùn)用，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn)：

本發(fā)明方案的基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置，其測試效率高，同時(shí)提供相對于封閉的空間和可靠的測試環(huán)境，也能對測試結(jié)果通過圖像定位直觀地體現(xiàn)，這樣不僅有助于開發(fā)人員快速地找到PCB問題的來源，運(yùn)用圖像精確地定位，進(jìn)而能針對問題分析解決措施，進(jìn)而大大縮短設(shè)計(jì)周期，降低了產(chǎn)品設(shè)計(jì)的費(fèi)用。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明技術(shù)方案作進(jìn)一步說明：

附圖1為本發(fā)明的基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

其中：1、頻譜分析儀；2、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)；3、圖像采集模塊；4、電腦；5、泡沫；6、待測PCB。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。

如附圖1所示的本發(fā)明所述的一種基于圖像定位的PCB板級EMI測試裝置，包括頻譜分析儀1、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2、圖像采集模塊3、電腦4和磁場探頭；所述頻譜分析儀1、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2和圖像采集模塊3分別與電腦4相連；所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2上一側(cè)固設(shè)有圖像采集模塊3；所述圖像采集模板3包括攝像頭、絲桿裝置和步進(jìn)電機(jī)；所述攝像頭設(shè)置在絲桿裝置上；所述絲桿裝置與步進(jìn)電機(jī)相連；所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2內(nèi)部設(shè)有通過驅(qū)動(dòng)裝置可蛇型掃描位于二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2上方的待測PCB的磁場探頭；所述磁場探頭與頻譜分析儀1相連；所述驅(qū)動(dòng)裝置包括兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)、傳送帶和泡沫5；所述傳送帶通過兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)蛇型移動(dòng)的設(shè)置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2內(nèi)部；所述傳送帶上設(shè)有泡沫5；所述磁場探頭（圖中未示出）固定在泡沫5上表面；所述頻譜分析儀1通過LAN網(wǎng)線與電腦4相連；所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2和圖像采集模塊3通過USB接口與電腦4相連。

實(shí)際操作過程如下：將待測PCB6放置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上，攝像頭開啟，通過電腦控制步進(jìn)電機(jī)開啟，控制攝像頭在絲桿裝置上進(jìn)行上下運(yùn)動(dòng)，對待測PCB6進(jìn)行清晰的拍攝，接著利用電腦對頻譜分析儀的參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，通過電腦發(fā)送信號(hào)給兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)，讓傳送帶進(jìn)行蛇型移動(dòng)，這樣磁性探頭就通過傳送帶對待測PCB6進(jìn)行蛇型掃描，并向頻譜儀進(jìn)行讀取數(shù)據(jù)，最后對數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)定處理，通過三維圖或者圖像定位算法的方法顯示PCB各個(gè)位置EMI的大小。

其中采用泡沫讓磁場探頭與傳送帶相連，是因?yàn)榕菽牟馁|(zhì)不會(huì)影響測量結(jié)果。