[發(fā)明專利]具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610184617.2
• 申請日: 2016-03-28
• 公開（公告）號: CN107238763A
• 公開（公告）日: 2017-10-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 謝旼達;張簡榮力;陳振峰
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11139
• 代理人: 孫皓晨

1.一種具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，包括：

機臺；

供料裝置，設(shè)于該機臺上，供容納多個待測電子元件；

收料裝置，設(shè)于該機臺上，供容納多個不同等級的完成測試后的電子元件；

測試裝置，設(shè)于該機臺上，以供至少一個電子元件執(zhí)行測試作業(yè)；

輸送裝置，設(shè)于該機臺上，以于該供料裝置、該測試裝置及該收料裝置之間移載待測電子元件及完成測試后的電子元件；

控制裝置，用于控制該供料裝置、該收料裝置、該測試裝置及該輸送裝置工作；

至少一離子產(chǎn)生器，設(shè)于該機臺上，以釋放出正離子及負離子；

至少一電荷偵測裝置，包括至少一偵測感知器及微處理器，該偵測感知器架設(shè)于機臺所屬環(huán)境空間中并連接至該微處理器，以偵測及分析機臺的電荷信號，并控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子，以中和該機臺所屬環(huán)境空間中的靜電荷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該測試裝置設(shè)有測試模塊，該測試模塊上設(shè)有至少一個測試座。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該輸送裝置設(shè)有至少一具取放器的移料臂、至少一轉(zhuǎn)載臺及至少一測試移載臂，該輸送裝置用以輸送待測電子元件及完成測試后的電子元件。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其 特征在于，該輸送裝置中的轉(zhuǎn)載臺于該機臺的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺以及于該機臺的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺，該測試移載臂設(shè)有第一測試移載臂及第二測試移載臂，以接續(xù)將該入料轉(zhuǎn)載臺上的待測電子元件移載至該測試裝置執(zhí)行測試作業(yè)，并于完成測試后將該電子元件移載至該出料轉(zhuǎn)載臺。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該離子產(chǎn)生器為離子風(fēng)扇。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該機臺外部設(shè)有外罩，該離子產(chǎn)生器裝配于該外罩的內(nèi)部。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該電荷偵測裝置中的偵測感知器偵測該機臺的電荷信號并將該機臺的電荷信號傳輸至該微處理器，該微處理器分析出該機臺所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該電荷偵測裝置于該機臺所屬環(huán)境空間中配置有多個偵測感知器，并將該多個偵測感知器連接于該微處理器，通過該多個偵測感知器偵測該機臺各位置產(chǎn)生的電荷信號。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該電荷偵測裝置中的微處理器連接于該離子產(chǎn)生器，該微處理器控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具電荷偵測裝置的電子元件測試分類機，其特征在于，該電荷偵測裝置中的微處理器連接于該控制裝置，該控制裝置控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負離子。