[發明專利]一種SRAM型FPGA單粒子軟錯誤與電路失效率關系快速測定方法有效
| 申請號： | 201610183678.7 | 申請日： | 2016-03-28 |
| 公開（公告）號： | CN105869679B | 公開（公告）日： | 2018-09-18 |
| 發明（設計）人： | 于登云;賈曉宇;蔡震波;張慶祥;李衍存;王穎;秦珊珊;鄭玉展 | 申請（專利權）人： | 北京空間飛行器總體設計部 |
| 主分類號： | G11C29/10 | 分類號： | G11C29/10;G11C29/56 |
| 代理公司： | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人： | 范曉毅 |
| 地址： | 100094 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 sram fpga 粒子 錯誤 電路 失效 關系 快速 測定 方法 | ||
【說明書】：
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