[發(fā)明專利]校正白光相移干涉儀中的條紋級次的誤差的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610179390.2 | 申請日： | 2016-03-25 |
| 公開（公告）號： | CN106017303B | 公開（公告）日： | 2019-04-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 玄昌洪;金星龍;樸喜載 | 申請（專利權(quán)）人： | SNU精密股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B9/02 | 分類號： | G01B9/02 |
| 代理公司： | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人： | 徐偉 |
| 地址： | 韓國忠*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 校正 白光 相移 干涉儀 中的 條紋 級次 誤差 方法 | ||
【說明書】：
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