[發(fā)明專利]一種測試方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610179291.4 | 申請日: | 2016-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN107229542A | 公開(公告)日: | 2017-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 關(guān)海 | 申請(專利權(quán))人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11243 | 代理人: | 許靜,安利霞 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成測試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種測試方法及裝置。
背景技術(shù)
隨著城域網(wǎng)的快速發(fā)展以及業(yè)務(wù)的多樣化發(fā)展,網(wǎng)絡(luò)運營者對接入和匯聚網(wǎng)絡(luò)設(shè)備數(shù)量和帶寬需求與日俱增,同時要求在一個設(shè)備上集成實現(xiàn)的業(yè)務(wù)功能也越來越多。眾多的業(yè)務(wù)功能集于一體,客觀上增加了網(wǎng)絡(luò)設(shè)備研發(fā)的復(fù)雜性,也增加了研發(fā)過程中發(fā)生功能性故障的概率。為了保證產(chǎn)品質(zhì)量,就要求研發(fā)人員在交付產(chǎn)品前對產(chǎn)品進(jìn)行測試。
目前,網(wǎng)絡(luò)設(shè)備產(chǎn)品研發(fā)的軟件一般都是分層的和模塊化的,不同層面的軟件通過協(xié)商的接口進(jìn)行函數(shù)調(diào)用。其中,芯片驅(qū)動代碼與上層業(yè)務(wù)軟件之間協(xié)商功能接口,上層業(yè)務(wù)軟件通過功能接口調(diào)用下層芯片驅(qū)動各個功能模塊,實現(xiàn)芯片的配置工作。對于芯片驅(qū)動研發(fā)人員來說,為了保證驅(qū)動各個功能模塊的質(zhì)量,就需要對這些模塊進(jìn)行測試。
傳統(tǒng)的測試方法要求每一個功能都要開發(fā)人員為該功能的接口編寫測試函數(shù)用例,通過運行這些用例來保證功能需求的正確性。傳統(tǒng)的測試方法效率較低,一體現(xiàn)在測試函數(shù)編寫上,需要研發(fā)人員花時間編寫、編譯和調(diào)試測試函數(shù);二體現(xiàn)在這些測試函數(shù)的質(zhì)量上,即如果這些函數(shù)測試覆蓋率不足,則會影響交付質(zhì)量,一旦交付后產(chǎn)品出現(xiàn)故障,就要返工。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測試方法及裝置,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中芯片驅(qū)動功能的測試方法效率低的問題。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實施例提供的一種系統(tǒng)測試方法,包括:
向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令;
獲取所述被測設(shè)備返回的根據(jù)所述腳本生成指令以及業(yè)務(wù)功能配置信息得到的第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件,所述配置信息文件包括:芯片驅(qū)動的配置信息文件;
根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件;
根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進(jìn)行測試。
其中,在向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令之前,所述方法還包括:
向所述被測設(shè)備發(fā)送業(yè)務(wù)功能配置信息。
其中,所述根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件的步驟,包括:
對所述配置信息文件進(jìn)行語法解析,得到第一配置解析信息;
將所述第一配置解析信息以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)進(jìn)行保存;
對按照所述預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)保存的所述第一配置解析信息進(jìn)行編譯,生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。
其中,所述根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進(jìn)行測試的步驟,包括:
對所述測試腳本配置文件的內(nèi)容進(jìn)行解析,得到腳本配置數(shù)據(jù)流;
將所述腳本配置數(shù)據(jù)流發(fā)送至所述被測設(shè)備,對所述被測設(shè)備上的芯片進(jìn)行業(yè)務(wù)功能配置。
本發(fā)明實施例還提供一種測試裝置,包括:
第一發(fā)送模塊,用于向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令;
第一獲取模塊,用于獲取所述被測設(shè)備返回的根據(jù)所述腳本生成指令以及業(yè)務(wù)功能配置信息得到的第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件,所述配置信息文件包括:芯片驅(qū)動的配置信息文件;
編譯模塊,用于根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件;
測試模塊,用于根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進(jìn)行測試。
其中,所述測試裝置還包括:
第二發(fā)送模塊,用于在向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令之前,向所述被測設(shè)備發(fā)送業(yè)務(wù)功能配置信息。
其中,所述編譯模塊包括:
解析子模塊,用于對所述配置信息文件進(jìn)行語法解析,得到第一配置解析信息;
信息保存子模塊,用于將所述第一配置解析信息以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)進(jìn)行保存;
編譯子模塊,用于對按照所述預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)保存的所述第一配置解析信息進(jìn)行編譯,生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。
其中,所述測試模塊包括:
腳本解析子模塊,用于對所述測試腳本配置文件的內(nèi)容進(jìn)行解析,得到腳本配置數(shù)據(jù)流;
測試子模塊,用于將所述腳本配置數(shù)據(jù)流發(fā)送至所述被測設(shè)備,對所述被測設(shè)備上的芯片進(jìn)行業(yè)務(wù)功能配置。
本發(fā)明實施例還提供一種測試方法,包括:
獲取測試主機(jī)發(fā)送的腳本生成指令;
根據(jù)所述腳本生成指令對業(yè)務(wù)功能配置信息進(jìn)行預(yù)處理,并返回第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件至所述測試主機(jī);
獲取所述測試主機(jī)發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流;
根據(jù)所述腳本配置數(shù)據(jù)流對芯片進(jìn)行業(yè)務(wù)功能配置。
其中,在獲取測試主機(jī)發(fā)送的腳本生成指令之前,所述方法還包括:
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