[發明專利]攝像模組的傾斜測量系統與測量方法

有效

• 申請號: 201610178871.1
• 申請日: 2016-03-25
• 公開（公告）號: CN105744266B
• 公開（公告）日: 2018-09-04
• 發明（設計）人: 丁亮;王明珠;廖海龍;鐘凌
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 寧波理文知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 33244
• 代理人: 羅京;孟湘明

1.一攝像模組的傾斜測量系統，其特征在于，所述攝像模組的傾斜測量系統包括一標板、一光源和一物距模擬光學結構，所述光源用于照亮所述標板，所述標板被一被測攝像模組進行拍攝，其中所述物距模擬光學結構實現所述標板的物距的模擬，通過模擬所述標板與所述被測攝像模組的物距在一預定范圍內變化，從而能夠實現所述被測攝像模組的感光芯片光軸與鏡頭光軸之間的傾斜角度計算，其中所述物距模擬光學結構包括多個鏡片，各所述鏡片形成一光學系統，用于模擬物距。

2.如權利要求1所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述預定范圍為從近物距到無窮遠物距變化，或者從無窮遠物距到近物距變化。

3.如權利要求1所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述標板與所述物距模擬光學結構的相對位置適于被調整以實現模擬所述標板與所述被測攝像模組的物距變化。

4.如權利要求1所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構與所述被測攝像模組的相對位置適于被調整以實現模擬所述標板與所述被測攝像模組的物距變化。

5.如權利要求1所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構的光學系統內部結構適于被調整以實現模擬所述標板與所述被測攝像模組的物距變化。

6.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述光源為均勻光源。

7.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述光源、所述標板、所述物距模擬結構和所述被測攝像模組按次序自上而下同軸排列。

8.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構的直徑在數值上為15cm以內。

9.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構的直徑在數值上為7～15cm。

10.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構的高度在數值上為50cm以內。

11.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構的高度在數值上為20～40cm。

12.如權利要求1至5中任一所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述物距模擬光學結構與所述被測攝像模組的間距在數值上為1.5～3cm。

13.如權利要求3所述的攝像模組的傾斜測量系統，其中所述標板的移動幅度范圍在數值上為5cm以內。

14.一攝像模組的傾斜測量方法，所述攝像模組的傾斜測量方法包括以下步驟：

(A)使一標板和一被測攝像模組的模擬物距藉由提供了一物距模擬光學結構而被調整并在一預定范圍內變化，其中所述物距模擬光學結構包括多個鏡片，各所述鏡片形成一光學系統，用于模擬物距；

(B)所述被測攝像模組的感光芯片的四角接收圖像；

(C)記錄所述感光芯片四角接收的圖像隨著所述標板移動過程中的清晰度的變化的曲線；以及

(D)計算所述被測攝像模組的感光芯片光軸與鏡頭光軸之間的傾斜角度。

15.如權利要求14所述的攝像模組的傾斜測量方法，其中包括步驟：移動所述標板以使所述標板和所述被測攝像模組的模擬物距產生變化。

16.如權利要求15所述的攝像模組的傾斜測量方法，其中所述標板垂直于所述被測攝像模組并且移動幅度不超5cm就能實現模擬物距在近物距和無窮遠物距之間的變化。