[發明專利]AMOLED顯示面板線缺陷的修復結構及修復方法

有效

• 申請號: 201610178046.1
• 申請日: 2016-03-24
• 公開（公告）號: CN105590573B
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 韓佰祥
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市德力知識產權代理事務所44265
• 代理人: 林才桂

1.一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復結構，其特征在于，包括：AMOLED顯示面板檢測線路、及直接嫁接在所述AMOLED顯示面板檢測線路上的修復線路；

所述AMOLED顯示面板檢測線路包括多條信號線(100)、與信號線(100)一一對應相連的多條信號扇出線(200)、與信號線(100)一一對應相連的多個測試TFT(310)、與所有測試TFT(310)相連的一測試控制線(320)、及數條測試線(330)；所述測試TFT(310)包括柵極、源極(312)、有源層(313)、及漏極(314)；所有測試TFT(310)的柵極由所述測試控制線(320)充當，一測試TFT(310)的漏極(314)對應與一信號線(100)相連，一測試線(330)對應與部分測試TFT(310)的源極(312)相連；

所述修復線路包括多塊導電薄膜(410)、及數條修復導線(420)；所述導電薄膜(410)的數量與測試TFT(310)的數量對等，一導電薄膜(410)對應層疊覆蓋于一測試TFT(310)上方并與該測試TFT(310)絕緣；所述修復導線(420)的數量與測試線(330)的數量對等，一修復導線(420)與所有的信號扇出線(200)、及一對應的測試線(330)絕緣交叉。

2.如權利要求1所述的AMOLED顯示面板線缺陷的修復結構，其特征在于，所述信號線(100)為顯示面板的數據線或掃描線。

3.如權利要求1所述的AMOLED顯示面板線缺陷的修復結構，其特征在于，所述測試TFT(310)的源極(312)、及漏極(314)與信號線(100)位于同一層。

4.如權利要求2所述的AMOLED顯示面板線缺陷的修復結構，其特征在于，所有的負責測試同一顏色像素的測試TFT(310)的源極(312)對應與一測試線(330)相連。

5.如權利要求1所述的AMOLED顯示面板線缺陷的修復結構，其特征在于，所述導電薄膜(410)的材料為透明的ITO，所述修復導線(420)的材料為導電金屬。

6.一種AMOLED顯示面板線缺陷的修復方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、提供一AMOLED顯示面板；

所述AMOLED顯示面板包括：AMOLED顯示面板檢測線路、及直接嫁接在所述AMOLED顯示面板檢測線路上的修復線路；

所述AMOLED顯示面板檢測線路包括多條信號線(100)、與信號線(100)一一對應相連的多條信號扇出線(200)、與信號線(100)一一對應相連的多個測試TFT(310)、與所有測試TFT(310)相連的一測試控制線(320)、及數條測試線(330)；所述測試TFT(310)包括柵極、源極(312)、有源層(313)、及漏極(314)；所有測試TFT(310)的柵極由所述測試控制線(320)充當，一測試TFT(310)的漏極(314)對應與一信號線(100)相連，一測試線(330)對應與部分測試TFT(310)的源極(312)相連；

所述修復線路包括多塊導電薄膜(410)、及數條修復導線(420)；所述導電薄膜(410)的數量與測試TFT(310)的數量對等，一導電薄膜(410)對應層疊覆蓋于一測試TFT(310)上方并與該測試TFT(310)絕緣；所述修復導線(420)的數量與測試線(330)的數量對等，一修復導線(420)與所有的信號扇出線(200)、及一對應的測試線(330)絕緣交叉；

步驟2、當某一信號線(100)產生線缺陷，將該信號線(100)位于缺陷點兩側的部分進行激光切斷，該信號線(100)原本與對應的信號扇出線(200)相連的部分繼續正常工作；

步驟3、將與該出現線缺陷的信號線(100)對應相連的測試TFT(310)的源極(312)、漏極(314)分別和位于該測試TFT(310)上方的導電薄膜(410)進行激光熔接，將與該測試TFT(310)的源極(312)相連的測試線(330)和對應與該測試線(330)絕緣交叉的修復導線(420)進行激光熔接，將該修復導線(420)和對應相連出現線缺陷的信號線(100)的信號扇出線(200)的絕緣交叉點進行激光熔接，使該信號線(100)原本與對應的測試TFT(310)相連的部分繼續正常工作。

7.如權利要求6所述的AMOLED顯示面板線缺陷的修復方法，其特征在于，所述信號線(100)為顯示面板的數據線或掃描線。