[發明專利]一種雙柵線陣列基板、測試方法、顯示面板和顯示裝置有效
| 申請號: | 201610173093.7 | 申請日: | 2016-03-24 |
| 公開(公告)號: | CN105789220B | 公開(公告)日: | 2019-05-14 |
| 發明(設計)人: | 任興鳳 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 李崢;楊曉光 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 雙柵線 陣列 測試 方法 顯示 面板 顯示裝置 | ||
1.一種對雙柵線陣列基板進行測試的方法,其中,
所述雙柵線陣列基板,包括多組雙柵線、多條數據線及設置于由多組雙柵線及多條數據線限定區域的多個像素對,
其中,每組所述雙柵線包括分別用于傳輸第一掃描信號和第二掃描信號的兩條柵線,在每組所述雙柵線中兩條柵線的相對方位相同,所述第一掃描信號和所述第二掃描信號時序不同,在同一時間傳送所述第一掃描信號或所述第二掃描信號,
每個所述像素對包括兩個像素單元,
其特征在于,任一組雙柵線及與其相鄰的兩組雙柵線和相鄰的兩條數據線限定區域內的兩個所述像素對中,每個像素對中的兩個像素單元分別連接所述相鄰的兩條數據線中相同的數據線,在數據線延伸方向上所述兩個像素對中的相鄰的兩個像素單元分別連接所述相鄰的兩條數據線中不同的數據線;
在所述任一組雙柵線延伸方向上相鄰的兩個所述像素對中,一個像素對中的兩個像素單元所連接的數據線與另一個像素對中的兩個像素單元所連接的數據線不同但是相鄰;以及
在數據線延伸方向上相鄰的兩個像素單元分別連接與其各自相鄰的傳輸掃描信號不同的柵線,在任一組雙柵線延伸方向上相鄰的兩個像素單元分別連接與其各自相鄰的傳輸掃描信號不同的柵線,
其中,沿所述數據線延伸方向對每個柵線順序編號,所述編號從1開始,所述方法包括:
向編號為1+3i的柵線提供相同時序的掃描信號,i為自然數,并執行以下步驟:
(a)向相鄰兩條數據線中的一條數據線傳輸數據信號,若被驅動的像素單元和與所述被驅動的像素單元相鄰的任何一個像素單元同時被驅動,則判定所述被驅動的像素單元和所述與所述被驅動的像素單元相鄰的任何一個像素單元之間存在短路;
(b)中斷向所述相鄰兩條數據線中的所述一條數據線傳輸數據信號,向所述相鄰兩條數據線中的另一條數據線傳輸數據信號,若被驅動的像素單元和與所述被驅動的像素單元相鄰的任何一個像素單元同時被驅動,則判定所述被驅動的像素單元和所述與所述被驅動的像素單元相鄰的任何一個像素單元之間存在短路;
中斷提供任何數據信號和掃描信號,向編號為2+3i的柵線提供相同時序的掃描信號,并執行上述步驟(a)和(b);以及
中斷提供任何數據信號和掃描信號,向編號為3+3i的柵線提供相同時序的掃描信號,并執行上述步驟(a)和(b)。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,每個所述像素單元包括像素電極及薄膜晶體管;所述薄膜晶體管的柵極與所述柵線連接,源極與所述數據線連接,漏極與所述像素電極連接。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述像素電極具有不同的大小和/或形狀。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述像素電極被布置成條狀結構或三角形結構。
5.根據權利要求2-4中的任何一項所述的方法,其特征在于,所述薄膜晶體管為以下之一:無機薄膜晶體管,或有機薄膜晶體管。
6.根據權利要求1-4中的任何一項所述的方法,其特征在于,所述雙柵線陣列基板還包括公共電極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





