[發(fā)明專利]一種低損耗交叉疊層式LTCC威爾金森功分器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610172478.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-03-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105846032B | 公開(公告)日: | 2018-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔡壯;葉強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)計(jì)量學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | H01P5/16 | 分類號(hào): | H01P5/16 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司33200 | 代理人: | 邱啟旺 |
| 地址: | 310018 浙江省*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 損耗 交叉 疊層式 ltcc 威爾金森功分器 | ||
1.一種低損耗交叉疊層式LTCC威爾金森功分器,其特征在于,包括從上到下依次布置的電感L1層(2)、電感L2層(3)、電感L3層(4)、電感L4層(5)、金屬矩形線層(6);
電感L1層(2)包括陶瓷基片,布置于陶瓷基片上表面的兩條金屬線、第一金屬圓(21)、第二金屬圓(22)、以及兩個(gè)布置于陶瓷基片上表面邊緣的第一輸出端口(23)和第二輸出端口(24),每個(gè)金屬線的兩端分別連接一個(gè)輸出端口和一個(gè)金屬圓;
電感L2層(3)包括陶瓷基片,布置于陶瓷基片上表面的兩條金屬線、第三金屬圓(31)、第四金屬圓(32)、第五金屬圓(33)、第六金屬圓(34);其中一根金屬線的兩端分別連接第四金屬圓(32)、第五金屬圓(33);另一根金屬線的兩端分別連接第三金屬圓(31)、第六金屬圓(34);第三金屬圓(31)通過通孔柱與第一金屬圓(21)相連,第四金屬圓(32)通過通孔柱與第二金屬圓(22)相連;
電感L3層(4)包括陶瓷基片,布置于陶瓷基片上表面的兩條金屬線、第七金屬圓(41)、第八金屬圓(42)、第九金屬圓(43)、第十金屬圓(44);其中一根金屬線的兩端分別連接第八金屬圓(42)、第九金屬圓(43);另一根金屬線的兩端分別連接第七金屬圓(41)、第十金屬圓(44);第五金屬圓(33)通過通孔柱與第七金屬圓(41)相連,第六金屬圓(34)通過通孔柱與第八金屬圓(42)相連;
電感L4層(5)包括陶瓷基片,布置于陶瓷基片上表面的兩條金屬線、第十一金屬圓(51)、第十二金屬圓(52)、第十三金屬圓(53)、第十四金屬圓(54);其中一根金屬線的兩端分別連接第十二金屬圓(52)、第十三金屬圓(53);另一根金屬線的兩端分別連接第十一金屬圓(51)、第十四金屬圓(54);且第十三金屬圓(53)、第十四金屬圓(54)相連;第十一金屬圓(51)通過通孔柱與第九金屬圓(43)相連,第十二金屬圓(52)通過通孔柱與第十金屬圓(44)相連;
金屬矩形線層(6)包括陶瓷基片,布置于陶瓷基片上表面的第十五金屬圓(61)和第十六金屬圓(62),以及布置于陶瓷基片上表面邊緣的輸入端口(63),輸入端口(63)與兩個(gè)金屬圓通過矩形金屬片相連;其中,第十五金屬圓(61)通過通孔柱與第十三金屬圓(53)相連,第十六金屬圓(62)通過通孔柱與第十四金屬圓(54)相連;
相鄰兩層陶瓷基片上的金屬線在豎直方向上不重疊,輸入端口和輸出端口的寬度相同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低損耗交叉疊層式LTCC威爾金森功分器,其特征在于,還包括mark層(1),mark層(1)包括印有mark點(diǎn)的陶瓷基片,mark層(1)布置在電感L1層(2)上方。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低損耗交叉疊層式LTCC威爾金森功分器,其特征在于,還包括布置于金屬矩形線層(6)下方的金屬屏蔽層(7)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低損耗交叉疊層式LTCC威爾金森功分器,其特征在于,還包括布置于金屬屏蔽層(7)下方的底層(8)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低損耗交叉疊層式LTCC威爾金森功分器,其特征在于,所述底層(8)包括陶瓷基片,以及布置于陶瓷基片下底面的第一金屬焊盤(81)、第二金屬焊盤(82)、第三金屬焊盤(83),所述第一金屬焊盤(81)與輸入端口(63)相連,第二金屬焊盤(82)、第三金屬焊盤(83)分別與第一輸出端口(23)和第二輸出端口(24)相連。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)計(jì)量學(xué)院,未經(jīng)中國(guó)計(jì)量學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610172478.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





