[發明專利]雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法

有效

• 申請號: 201610169839.7
• 申請日: 2016-03-24
• 公開（公告）號: CN105758622B
• 公開（公告）日: 2017-08-11
• 發明（設計）人: 孔令超;冷進勇;郭少鋒;周樸;許曉軍;姜宗福;陳金寶
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科學技術大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務所(普通合伙)43008
• 代理人: 趙洪,黃麗

1.一種雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，所述測量方法包括以下步驟：將雙包層光纖激光器輸出光纖的端面采用透鏡組進行等比例放大成像，在所述透鏡組的像面處設置孔徑可調的光闌，通過調節所述光闌的孔徑大小使所述雙包層光纖激光器輸出光中的纖芯光全部通過光闌而包層光被光闌阻擋，測量光闌前輸出光光斑的功率P₁和光闌后纖芯光光斑的功率P₂，得到所述雙包層光纖激光器輸出光的包層光比例為（P₁－P₂）/P₁;

所述測量方法還包括所述輸出光的信號光波段中信號光波段包層光比例的測量，具體過程如下：在所述透鏡組與所述光闌之間設置二色鏡和楔形鏡，所述二色鏡將所述透鏡組放大成像后的輸出光中的泵浦光波段包層光濾除，并將所述輸出光中的信號光波段包層光和纖芯光反射至所述楔形鏡，所述楔形鏡將所述二色鏡反射的信號光波段包層光和纖芯光反射至所述光闌，通過調節所述光闌的孔徑大小使所述纖芯光全部通過光闌而所述信號光波段包層光被光闌阻擋，測量光闌前信號光波段包層光與纖芯光組成的光斑的功率P₃和光闌后纖芯光光斑的功率P₂，得到所述雙包層光纖激光器輸出光的信號光波段中信號光波段包層光的比例為（P₃－P₂）/P₃。

2.根據權利要求1所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，所述雙包層光纖激光器輸出光纖的端面位于所述透鏡組的物面，所述雙包層光纖激光器輸出光的光軸與所述透鏡組的主軸重合。

3.根據權利要求1所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，所述透鏡組的放大倍率為100倍～200倍。

4.根據權利要求1所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，所述透鏡組對纖芯成像的系統像差小于或等于0.5倍信號光波長。

5.根據權利要求1所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，所述纖芯光的光斑位于所述光闌的中心；所述光闌的孔徑大小為所述光闌上纖芯光光斑直徑的1.5倍～2.5倍。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，測量所述輸出光中信號光波段包層光的比例時，所述信號光波段包層光和纖芯光組成的光射于所述楔形鏡的楔面中心，入射角為5°～10°，所述楔形鏡的反射率不超過4%。

7.根據權利要求1至5中任一項所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，所述楔形鏡的后方設有廢光收集器。

8.根據權利要求1至5中任一項所述的雙包層光纖激光器包層光比例的測量方法，其特征在于，測量所述輸出光中信號光波段包層光的比例時，所述輸出光射于所述二色鏡的中心，經二色鏡反射的信號光波段包層光和纖芯光組成的光射于所述楔形鏡的中心。