[發明專利]一種基于頻偏分類的精密測量雷達測頻方法有效
| 申請號： | 201610166308.2 | 申請日： | 2016-03-22 |
| 公開（公告）號： | CN105738878B | 公開（公告）日： | 2018-01-12 |
| 發明（設計）人： | 周云;蘭杰;朱曉芳;王暉;鄒林 | 申請（專利權）人： | 電子科技大學 |
| 主分類號： | G01S7/40 | 分類號： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 電子科技大學專利中心51203 | 代理人： | 張楊 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 分類 精密 測量 雷達 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于頻偏分類的精密測量雷達測頻方法，該方法包括：
步驟1：將回波與發射波混頻后經過濾波器，得到差頻信號；
步驟2：將差頻信號做FFT后得到幅度最大值X(k0)及次大值X(k0+r)；
當X(k0+1)＞X(k0-1)，r＝1；當X(k0+1)≤X(k0-1)，r＝-1；
步驟3：利用公式：
獲取頻譜搬移值Δk；利用公式：
獲得預估頻率f1；其中：fs表示采樣頻率，N表示FFT點數；
步驟4：獲取對比頻率f0：f0＝fs.k/N，k∈[1,N]；
步驟5：若|f1-f0|＜0.02Δf，則認定中心頻率為fe＝f0，其中Δf＝fs/N；
若|f1-f0|＞0.2Δf，則認定中心頻率fe＝f1；
若0.2Δf≥|f1-f0|≥0.02Δf，將步驟1獲得的差頻信號乘以exp[j2πnr(1/2-Δk)/N]，其中n表示表示離散序列的序列號，再將平移后的信號進行FFT變換，找出幅度最大值對應的頻率，認定該頻率為中心頻率fe。
2.如權利要求1所述的一種基于頻偏分類的精密測量雷達測頻方法，其特征在于所述步驟4中獲取對比頻率的方法為獲取步驟1中幅度最大值X(k0)對應的頻率，該頻率為對比頻率f0。
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