[發明專利]一種窄帶多光譜相機陣列成像裝置有效
| 申請號: | 201610161160.3 | 申請日: | 2016-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN105572689B | 公開(公告)日: | 2017-12-12 |
| 發明(設計)人: | 周源;劉春;董韜;李敏珍;李楠 | 申請(專利權)人: | 上海同繁勘測工程科技有限公司;北京數維翔圖高新技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01S17/89 | 分類號: | G01S17/89 |
| 代理公司: | 濟南千慧專利事務所(普通合伙企業)37232 | 代理人: | 商福全 |
| 地址: | 201400 上海市奉賢區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 窄帶 光譜 相機 陣列 成像 裝置 | ||
技術領域:
本發明屬于無人機遙感技術領域,尤其是涉及一種窄帶多光譜相機陣列成像裝置。
背景技術:
多光譜分辨率遙感是利用兩個以上波譜通道傳感器對地物進行同步成像的一種遙感技術。它將物體反射輻射的電磁波信息分成若干波譜段進行接收和記錄,能實現目標空間信息、光譜信息的同步獲取,是獲取航天遙感數據的主要傳感器。目前,多光譜遙感傳感器主要可分為濾光片式、多路分光式以及多相機式三種方式。濾光片式傳感器的特點是在成像系統前通過改變濾光片濾光性能,調諧通光波長,通過多次曝光實現多波段影像數據的獲取。但是此類傳感器調諧波段速度低,調諧部件結構復雜等因素都限制了該類傳感器在無人機平臺上的應用。多路分光式傳感器利用分光棱鏡將入射光線分為多路,用多探測器接收各路光譜信息,一次曝光能同時獲取空間與光譜信息。但是此類傳感器的棱角分光性能無法改變,一經生產,其波段數量固定且造價昂貴,甚至超過無人機平臺本身造價。多相機式傳感器由多個相機組成,每個相機配置不同且帶通濾光片,一次曝光可同時獲取空間信息與光譜信息。但是此類傳感器因其感光探測器造價昂貴,探測器畫幅小,將導致其在無人機平臺使用時需要大量布控,測量外業成本高,并且多相機的設計也增加了裝置的重量、體積和造價。上述三種方式的多光譜遙感傳感器,結構過于復雜、造價高、量測效率低,難以應用于無人機機載平臺。
發明內容:
本發明提供了一種窄帶多光譜相機陣列成像裝置,它結構簡單,重量輕,體積小,適用于無人機機載平臺,可根據無人機機載平臺條件以及觀測目的不同,改變單通道成像裝置的數量,方便靈活,可控性強,其核心部件取自普通民用相機,大幅降低無人機機載多光譜相機制造成本,采用普通民用相機成像傳感器,其畫幅較大,可減少多光譜測量作業時地面控制點數量,降低外業作業成本,量測效率高,解決了現有技術中存在的問題。
本發明為解決上述技術問題所采用的技術方案是:
一種窄帶多光譜相機陣列成像裝置,包括一主成像裝置和設置在主成像裝置周圍的若干個單通道成像裝置,主成像裝置與若干個單通道成像裝置均通過暗盒固定布設在無人機機身的底部,所述主成像裝置包括第一面陣感光傳感器、控制單元與存儲單元,第一面陣感光傳感器依次由成像物鏡、抗混濾波器、紅外濾光片、微透鏡陣列、拜爾濾鏡以及光電二極管構成,所述單通道成像裝置包括第二面陣感光傳感器、控制單元與存儲單元,第二面陣感光傳感器依次由濾光鏡、成像物鏡、平行光鏡以及光電二極管構成,在濾光鏡外側表面鍍設一層氧化膜;主成像裝置與單通道成像裝置的控制單元分別經導線與控制裝置相連。
所述單通道成像裝置為四個、五個或八個。
本發明采用上述方案,結構簡單,重量輕,體積小,適用于無人機機載平臺,可根據無人機機載平臺條件以及觀測目的不同,改變單通道成像裝置的數量,方便靈活,可控性強,其核心部件取自普通民用相機,大幅降低無人機機載多光譜相機制造成本,采用普通民用相機成像傳感器,其畫幅較大,可減少多光譜測量作業時地面控制點數量,降低外業作業成本,量測效率高。
附圖說明:
圖1為本發明主成像裝置的結構示意圖。
圖2為本發明單通道成像裝置的結構示意圖。
圖3為本發明第一面陣感光傳感器的結構示意圖。
圖4為本發明第二面陣感光傳感器的結構示意圖。
圖5為四個單通道成像裝置的結構示意圖。
圖6為五個單通道成像裝置的結構示意圖。
圖7為八個單通道成像裝置的結構示意圖。
圖中,1、暗盒;2、主成像裝置;3、單通道成像裝置;4、成像物鏡;5、抗混濾波器;6、紅外濾光片;7、微透鏡陣列;8、拜爾濾鏡;9、光電二極管;10、濾光鏡;11、平行光鏡;12、氧化膜;13、控制單元;14、存儲單元。
具體實施方式:
為能清楚說明本方案的技術特點,下面通過具體實施方式,并結合其附圖,對本發明進行詳細闡述。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海同繁勘測工程科技有限公司;北京數維翔圖高新技術股份有限公司,未經上海同繁勘測工程科技有限公司;北京數維翔圖高新技術股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610161160.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





