[發明專利]一種數控增件工裝及其快速裝配方法

有效

• 申請號: 201610159277.8
• 申請日: 2016-03-18
• 公開（公告）號: CN105538016B
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 李濤;孫麗華;鳳姣
• 申請（專利權）人: 沈陽飛機工業（集團）有限公司
• 主分類號: B23Q3/18
• 分類號: B23Q3/18;B23Q17/24
• 代理公司: 沈陽杰克知識產權代理有限公司21207
• 代理人: 胡洋

技術領域

本發明屬于機械加工技術領域，具體涉及一種數控增件工裝及其快速裝配方法。

背景技術

現代機械加工及模具行業中，數控整體加工的工藝裝備在需要增加新制工藝件的時候，需要將原工件返回到制造車間并將工裝重新上數控機床找正加工，因此導致工裝的制造、周轉周期相對較長，任務量較大而且工作效率低。

發明內容

本發明目的是提供一種數控增件工裝及其快速裝配方法，利用工裝上原有的兩個數控加工基準孔為基準，通過在工裝的加工面任意位置上鉆一個輔助基準孔，利用激光跟蹤儀上的軸對準功能實測這三個孔的相對位置，建立工裝的直角坐標系，然后按照工裝的三維工程數據提供的新制造的零件空間位置坐標調整到位，最后利用激光跟蹤儀將新制零件的位置測量顯示在電腦顯示屏上，方便檢驗人員檢查驗收并根據此進行新制零件的加工。使數控增件工裝的制造更加快速、簡潔，制造裝配精度滿足要求，檢測更為直觀。

本發明采用的技術方案為：

一種數控增件工裝，具有工裝基體(1)，工裝基體(1)上具有基準孔A和基準孔B，工裝基體(1)上還具有已加工表面。

一種數控增件工裝的快速裝配方法，包括以下步驟：

1)在工裝基體(1)實物上添加輔助基準孔C：在工裝基體(1)已加工表面上任意位置處鉆一個與激光跟蹤儀的工具球靶球底座相同直徑的孔，作為輔助基準孔C；

2)確定輔助基準孔C的位置：利用激光跟蹤儀實測基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C的位置關系，并利用激光跟蹤儀內的軸對準坐標系轉換輔助基準孔C相對于原有基準孔A和基準孔B的位置坐標，然后將坐標返回到數模中確定位置，并在數模狀態下獲取基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C的新坐標值；

3)確定新增件位置：利用基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C建立工裝狀態下的坐標系，調整新增件定位器的位置；

4)新增件定位器位置檢測：利用激光跟蹤儀的測量功能將調整到位的新增件定位器進行檢測并將檢測的結果反饋到電腦顯示屏上；

5)根據檢測完的新增件定位器位置，在工裝基體(1)上裝配固定新增件。

所述的一種數控增件工裝的快速裝配方法，在基準孔A上裝配轉換套，所述轉換套的內孔孔徑與激光跟蹤儀的工具球靶球底座的直徑一致，所述轉換套的外徑與基準孔A的孔徑一致；和/或在基準孔B上裝配轉換套，所述轉換套的內孔孔徑與激光跟蹤儀的工具球靶球底座的直徑一致，所述轉換套的外徑與基準孔B的孔徑一致。

所述的一種數控增件工裝的快速裝配方法，步驟3)所述新增件為鉆模板，所述鉆模板上設有鉆?？?，對新增件、基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C進行絕對坐標系賦值，具體為利用鉆模板上的鉆模孔安裝測量點，然后對新增件、基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C進行工作絕對坐標系賦值。

所述的一種數控增件工裝的快速裝配方法，步驟3)所述新增件為用于產品的定位件(其上有定位檢測用的工具球孔)，所述定位件上設有定位檢測用的工具球孔，對定位件、基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C進行絕對坐標系賦值，具體為利用定位件上的工具球孔安裝測量點，然后對定位件、基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C進行工作絕對坐標系賦值。

所述的一種數控增件工裝的快速裝配方法，所述的輔助基準孔C的尺寸為Φ6.35H7。

所述的一種數控增件工裝的快速裝配方法，所述基準孔A、基準孔B和輔助基準孔C不共線。

本發明具有以下有益效果：

本發明一種數控增件工裝的快速裝配方法使數控增件工裝的制造更加快速、簡潔，制造裝配精度高，檢測更直觀。本方法利用激光跟蹤儀解決了工裝基準上僅有兩個基準孔下建立坐標系的難題，對于零件裝配后的檢測實現現場動態測量，免去了正常加工與測量分開的困局。

需要增加新制工藝件的工裝只需要以工裝上原有的兩個數控加工基準孔為基準，在其加工面上任意位置上鉆一個孔，利用激光跟蹤儀上的軸對準功能實測這三個孔的相對位置，建立工裝的直角坐標系，然后按照工裝的三維工程數據提供的新制造的零件空間位置坐標調整到位，最后利用激光跟蹤儀將新制零件的位置測量，顯示在電腦顯示器屏上，不但檢測更方便直觀，而且可以將零件的位置精度控制在誤差±0.05mm內，提高制造裝配精度，縮短數控增件工裝的制造、周轉周期，提高工作效率。

附圖說明

圖1為實施例中數控增件工裝的結構示意圖。

圖2為圖1所示增件工裝增加輔助基準孔結構圖。

圖3為圖2所示增件工裝絕對坐標系下對新增件增加測量點值分布圖。