[發明專利]一種納米級三維量子熱像儀

有效

• 申請號: 201610157837.6
• 申請日: 2016-03-18
• 公開（公告）號: CN105651394B
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發明（設計）人: 李本強;宣劭文;江新兵;劉紅忠;洪軍
• 申請（專利權）人: 西安交通大學
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G02B21/36;G02B27/00
• 代理公司: 西安智大知識產權代理事務所 61215
• 代理人: 賀建斌

1.一種納米級三維量子熱像儀，包括激光器(1)，其特征在于：在激光器(1)發出的激光光路上依次設置有載物臺(3)、物鏡(4)和半反半透鏡(5)，載物臺(3)上放置有含有若干量子點(2)的樣品，激光器(1)發出激光照射在樣品上，樣品和量子點(2)經物鏡(4)放大成像，再經半反半透鏡(5)作用分成兩路光路，一路為反射光路，一路為透射光路，

在半反半透鏡(5)的反射光路上依次設置有第一濾波片(6)、第一透鏡(7)、相位調制器(8)、第二透鏡(9)、CCD(10)，半反半透鏡(5)的反射光經第一濾波片(6)過濾掉與激光器(1)發出的激光波長不一致的光，經半反半透鏡(5)反射得到的像位于第一透鏡(7)的前焦面，相位調制器(8)位于第一透鏡(7)的后焦面，相位調制器(8)同時也位于第二透鏡(9)的前焦面，相位調制器(8)與計算機(14)連接，CCD(10)位于第二透鏡(9)的后焦面，CCD(10)與計算機(14)連接，

在半反半透鏡(5)的透射光路上設置有反射鏡(11)，在反射鏡(11)的反射光路上設置有第二濾波片(12)和光譜測量儀(13)，第二濾波片(12)過濾掉與激光器(1)發出的激光波長相同的光，光譜測量儀(13)與計算機(14)連接。

2.根據權利要求1所述的一種納米級三維量子熱像儀，其特征在于：所述的相位調制器(8)為固定相位板，或為透射式液晶相位調制器，或為反射式液晶相位調制器。