[發明專利]太陽能組件功率測試儀校準用自動化輔助裝置有效
| 申請號: | 201610157312.2 | 申請日: | 2016-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN105609593B | 公開(公告)日: | 2017-02-08 |
| 發明(設計)人: | 安全長;陳小梅 | 申請(專利權)人: | 常州億晶光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H02S50/15 |
| 代理公司: | 常州市英諾創信專利代理事務所(普通合伙)32258 | 代理人: | 鄭云 |
| 地址: | 213213 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽能 組件 功率 測試儀 校準 自動化 輔助 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能組件生產技術領域,尤其是一種太陽能組件功率測試儀校準用自動化輔助裝置。
背景技術
如圖5所示的太陽能組件19具有若干片電池片20,太陽能組件19最終以功率面向客戶,生產封裝完畢的太陽能組件19功率測試在整個組件生產過程中占有重要地位,測試方法為太陽能組件19連接負載,利用太陽光模擬器,將一定強度的光照射在組件表面,采用連到計算機上的數據采集卡采集相關數據,用專門軟件進行處理分析。測試要求整塊組件的玻璃面各點接受的光強度1000W/m2,如何保證測試儀器光強度均勻性成為測試的結果準確的一項重要指標,如圖6和7所示的太陽能組件功率測試儀一般包括模擬光源21及位于模擬光源21上方的玻璃片22測試區域,玻璃片22測試區域的兩側具有組件傳輸導軌,在對太陽能組件19功率測試時,將太陽能組件19沿著導軌移動到玻璃片22測試區域的指定位置,由于導軌存在使得太陽能組件19玻璃面與玻璃片22之間存在一定間距,在對其進行功率測試,隨著功率測試設備的使用,由于各種原因引起測試區域局部的光強度與其他部位產生差異,從而導致太陽能組件19上的每片電池片20接收的光強度不一致,對組件的功率測試產生影響,因此需要定時對生產線用太陽能組件19功率測試儀光強度均勻性進行校準,目前在生產線用太陽能組件功率測試儀光強度均勻性的校準過程中,將一片標準電池片20按照太陽能組件19上的電池片20分布,在玻璃片22上一一對應移動進行光強度測試,由于標準電池片直接放置于玻璃片22上,導致校準時標準電池片與玻璃片22之間不存在間距,與組件產線測試時存在間距的測試環境不同,測試時由于間距的存在導致光強度弱于校準條件,對組件的功率測試的準確性造成影響。目前校準在移動標準電池片的過程中,由于標準電池片相對組件很小,每次控制與玻璃片22之間的間距不易把握,給實際的校準工作帶來了很大的困難和麻煩。
發明內容
本發明要解決的技術問題是:為了解決現有技術中在進行生產線用太陽能組件功率測試儀光強度均勻性校準時,標準電池片與測試儀玻璃片之間無間距而導致對組件的功率測試的準確性造成影響的問題,現提供一種太陽能組件功率測試儀校準用自動化輔助裝置。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種太陽能組件功率測試儀校準用自動化輔助裝置,包括立柱、承載板、真空發生器和控制器,所述立柱支撐在所述承載板的下方,所述承載板的下表面固定有Y軸進給機構,所述Y軸進給機構上設有X軸進給機構,所述Y軸進給機構用于驅動X軸進給機構沿Y軸方向運動,所述X軸進給機構上設置有Z軸進給機構,所述X軸進給機構用于驅動Z軸進給機構沿X軸方向運動,所述Z軸進給機構上設置吸盤,所述真空發生器與所述吸盤連通,所述控制器分別與所述X軸進給機構、Y軸進給機構、Z軸進給機構及真空發生器信號連接。
本方案中對太陽能組件功率測試儀校準時,將該輔助裝置放置到玻璃片上(同太陽能組件測試時所在玻璃片上的位置一致),控制器控制真空發生器工作,吸盤產生負壓,會吸住標準電池片,通過控制器控制Z軸進給機構使得標準電池片玻璃面與測試區域玻璃片之間的間距同產線測試時太陽能組件玻璃面與測試區域玻璃片的之間的間距一致,有效的保證了校準時與產線測試時光強度的一致性,然后通過控制器控制X軸進給機構和Y軸進給機構帶動標準電池片移動,使得太陽能組件中每片電池片對應在測試區域玻璃片上的位置均被校準過。
進一步地,所述Y軸進給機構包括第一基座、第一絲杠、第一電機及第一滑塊,所述第一基座固定在所述承載板的下表面,所述第一絲杠與所述第一基座轉動連接,所述第一電機固定在所述第一基座上,所述第一電機與所述第一絲杠固定連接,所述第一滑塊與所述第一絲杠螺紋連接,所述控制器與所述第一電機信號連接。
進一步地,所述第一滑塊上設置有第一凸起,所述第一基座內設有與所述第一凸起相匹配的第一滑槽,所述第一凸起滑動設置在所述第一滑槽內,第一電機驅動第一絲杠在第一基座上轉動,由于第一滑塊與第一絲杠螺紋連接,第一滑塊的第一凸起與第一滑槽滑動連接,因此第一滑塊會相對第一絲杠沿其軸線方向運動。
進一步地,所述X軸進給機構包括第二基座、第二絲杠、第二電機及第二滑塊,所述第二基座固定在所述第一滑塊上,所述第二絲杠與所述第二基座轉動連接,所述第二電機固定在所述第二基座上,所述第二電機與所述第二絲杠固定連接,所述第二滑塊與所述第二絲杠螺紋連接,所述控制器與所述第二電機信號連接。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





