[發明專利]高測試密度的電路測試板

有效

• 申請號: 201610156896.1
• 申請日: 2016-03-18
• 公開（公告）號: CN107202948B
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 林定皓;張喬政;林宜儂
• 申請（專利權）人: 景碩科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王濤

本發明提供一種高測試密度的電路測試板，包含有一基板、一第一絕緣層、一布線層、一第二絕緣層、多個導電錐，該基板的下、上表面分別設有多個下電極及多個上電極，該些下電極與該些上電極分別電連接；該基板的上表面設置該第一絕緣層，于該第一絕緣層形成該布線層并通過至少一第一連接件電連接部分該些上電極，該第二絕緣層設置于該第一絕緣層，該些導電錐以矩陣排列形成于該第二絕緣層并通過至少一第二連接件電連接該布線層，利用該布線層、該第一連接件、該第二連接件的線路布置，提供電測電力至部分的導電錐，通過該些導電錐的排列提升電測密度。

技術領域

本發明是關于一種電路測試板，尤其是指一種具有高測試密度的電路測試板。

背景技術

電路板的電測為制作電路板的基本程序之一，用于檢驗電路板能否順利工作，因此需要正確且完善的工具來支援，于電測中，往往將一電路板疊放于一測量裝置的一測試治具上，該測量裝置傳輸電力至該測試治具，該測試治具選擇性的將電力傳輸至該電路板上的電極或待測點，對該電路板進行電測。請參考圖5所示，目前的測試治具70包含了一底板71、兩彈簧件72、一升降板73、多個伸縮探針74、一遮罩板75。該底板71形成有多個凹孔76，該些凹孔76以矩陣排列平均分布于該底板71的表面，兩彈簧件72間隔固定于該底板71表面，該升降板73固定于兩彈簧件72的頂端并且通過兩彈簧件72相對于該底板71上下移動，該升降板73上形成有與該些凹孔76垂直對應的多個穿孔77。

各伸縮探針74具有一探針頭741及一伸縮部742，該些伸縮部742分別容置于該些凹孔76的底部，各該探針頭741的底部連接該伸縮部742的頂端。

要使用該測試治具70對一待測電路板80進行測試時，應先備制該遮罩板75，于該遮罩板75上形成多個通孔751，該些通孔751的位置是對應于該待測電路板80的多個電極81或待測點。

該遮罩板75疊放至該升降板73上，并將該待測電路板80放置在該遮罩板75上，該遮罩板75與該升降板73因重力壓縮兩彈簧件72，使該升降板73朝向該底板71移動，此時，有部分的伸縮探針74其該探針頭741穿過該升降板73的穿孔77及該遮罩板75的部分通孔751，使該些探針頭741分別電連接至該待測電路板80的該些電極81，因為各伸縮探針74的該伸縮部742連接有一導線(未示)，該些導線傳遞電力至該些伸縮探針74，當該些探針頭741接觸至該些電極81時輸送電力至該些電極81，對該測試電路板80進行電測；其中，未與該些電極81垂直排列的部分伸縮探針74，其探針頭741受到該遮罩板75的阻擋，不會與該待測電路板80相接觸，可避免發生短路或誤觸到該待測電路板80其余的導電區(如導電線路)。

然而，為了避免該些伸縮探針74相互碰觸、發生短路的情況，目前的升降板73 需要限制伸縮探針74彼此之間的間距，即該些穿孔77之間必須保持一定的間距，使得該些穿孔77內相鄰探針頭741之間的距離無法縮短，導致了目前的電路測試板的測試密度偏低，容易發生伸縮探針74無法接觸該待測電路板80的所有電極81或待測點，導致應該通電的地方未通電發生漏測，或是檢測結果錯誤的誤測。

請參閱圖6A所示，為了解決測試密度不足的問題，可利用另一種結構的測試治具，于該遮罩板75上堆疊至少一輔助板78，該至少一輔助板78形成有多個貫孔781，該些伸縮探針74穿設該些貫孔781。于未傾斜該些伸縮探針74時，該些伸縮探針74頂端之間的測量間距為L1，當該待測電路板80的電極81之間的待測間距L2小于該測量間距L1時，將有部分的電極81無法電連接該伸縮探針74，發生漏測或誤測的問題。