[發明專利]一種簡化的N型IBC電池結構及其制備方法在審
| 申請號: | 201610152527.5 | 申請日: | 2016-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN105576048A | 公開(公告)日: | 2016-05-11 |
| 發明(設計)人: | 董鵬;郭輝;屈小勇;張玉明 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學;中電投西安太陽能電力有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;H01L31/042;H01L31/18 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 簡化 ibc 電池 結構 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能電池技術領域,特別涉及一種簡化的N型IBC電池結構及其 制備方法,可用于光伏發電。
現有技術
太陽能光伏發電因其清潔、安全、便利、高效等特點,已成為世界各國普遍 關注和重點發展的新興產業。因此,深入研究和利用太陽能資源,對緩解資源危 機、改善生態環境具有十分重要的意義。
IBC電池技術從結構上打破傳統晶硅電池的結構限制,為提高電池轉換效率 提供較大空間,目前產業化電池效率已達23%。展望未來,轉化效率超過21%的N 型晶體硅電池已成為傳統晶體硅太陽能電池的發展趨勢,是當今國際研究和產業 化的前沿。
以常規N型IBC電池為例,如圖1所示,IBC電池的基本結構包括:N型硅片基 體100,N型硅片基體的表面由內到外依次是N+摻雜層101、鈍化層102及減反射層 103;N型硅片基體的背面是間隔排列著、梳狀的N+摻雜區104和P+摻雜區105,N+ 摻雜區104表面由內到外依次是鈍化層106、增反射層108和負電極109,P+摻雜區 105表面由內到外依次是鈍化層107、增反射層108和正電極110。
常規制作IBC電池的工藝流程大致為:去損傷層及制絨-雙面擴散形成N+層- 刻蝕并去PSG-淀積或印刷形成掩膜-腐蝕形成P+摻雜區-擴散形成P+摻雜層-形成 正面鈍化層和減反射層-背面掩膜形成N+表面鈍化層-背面掩膜形成P+表面鈍化 層-背面形成增反射層-刻蝕形成電極接觸圖形-印刷電極-燒結。
以上僅是制作IBC電池的主要步驟,而在實際生產過程中,IBC電池的制作涉 及到非常多的技術細節及相應的操作步驟,使得IBC電池生產工藝復雜,制造成 本高昂、良品率較低,影響了IBC電池的發展。
發明目的
本發明的目的在于提供一種簡化的IBC電池結構及其制作工藝方法,以提高 生產效率和良品率,并降低其生產成本。
發明內容
為實現上述目的,本發明包括減反層、N型硅片基體、鈍化層、摻雜層及金 屬電極,其特征在于:
所述減反層,設在N型硅片基體的正面;
所述摻雜層,采用由n+摻雜層和p+摻雜層構成的硅摻雜層,該n+摻雜層和p+ 摻雜層平行交錯設在N型硅片基體的背面;
所述鈍化層,設在n+摻雜層和p+摻雜層背面;
所述電極,設在鈍化層背面,負電極從n+摻雜層引出,正電極從p+摻雜層上 引出。
制作上述簡化的IBC電池的方法給出如下兩種技術方案:
技術方案1:
一種簡化的IBC電池結構的制備方法,其包括如下步驟:
(1)將N型硅片置于質量分數為1%~3%的NaOH溶液中反應20~30min,進行雙面 制絨并對硅背面拋光;
(2)在硅片背面絲網印刷寬度為50μm~1.5mm的硼源和寬度為30μm~1.5mm的 磷源;
(3)在印有硼源和磷源的硅片表面淀積一層厚度為75nm~200nm、折射率為 1.8~2.5的SiNx掩膜,覆蓋硼源和磷源;
(4)將硅片置于擴散爐中,在溫度800℃~1000℃環境下擴散40分鐘~90分鐘, 使印刷在硅片背面的硼源和磷源向硅中擴散,形成n+和p+摻雜層,其中n+摻雜層 的擴散方塊電阻為15~60ohm/□,p+摻雜層的擴散方塊電阻為20~80ohm/□;
(5)采用PECVD在硅片正面沉積厚度為60nm~100nm,折射率為1.8~2.3的SiNx 膜作為減反膜;
(6)在SiNx掩模的背面采用鋁漿進行絲網印刷形成電極圖形,再在750℃ ~850℃進行高溫燒結,形成寬度為40μm~80μm的負電極電極和寬度為40μm ~1mm的正電極,完成N型IBC電池的制作。
技術方案2:
一種簡化的IBC電池結構的制備方法,其包括如下步驟:
1)N型硅片雙面制絨:將N型硅片置于質量分數為1%~3%的KOH溶液中反應 20~30min,進行雙面制絨并對硅背面拋光;
2)在硅片背面絲網印刷硼源和磷源,硼源印刷寬度為50μm~1.5mm、磷源印 刷寬度為30μm~1.5mm;
3)在印有硼源和磷源的硅片表面淀積一層厚度為75nm~200nm、折射率為 1.8~2.5的SiNx掩膜,覆蓋硼源和磷源;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





