[發明專利]一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201610151203.X
• 申請日: 2016-03-16
• 公開（公告）號: CN105652483B
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 秦明;張付強;梁紅軍;劉健;趙正;游維平
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍

1.一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量方法，其特征在于：通過鏡組探頭采集液晶屏產生的光學信號，按照測量所采用的標準調節進入鏡組探頭的入射光的角度，同時對調節角度后的入射光進行會聚，將會聚后的光學信號導入光纖一端，光學信號經光纖另一端傳導至檢測設備，檢測設備對光學信號進行測量，再對測量結果進行校正，得到準確值；

所述鏡組探頭與光纖一端連接，所述鏡組探頭包括殼體和位于殼體內同軸依次設置的物鏡、光闌和目鏡，所述目鏡設置在靠近光纖的一端。

2.根據權利要求1所述的一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量方法，其特征在于：所述物鏡和目鏡之間的距離為目鏡和物鏡的焦距之和，所述光纖一端位于目鏡的焦點上。

3.根據權利要求1所述的一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量方法，其特征在于：所述調節進入鏡組探頭的入射光的角度是通過調整鏡組探頭內物鏡、光闌、目鏡之間的距離以及光闌口徑的大小來實現，所述對調節角度后的入射光進行會聚是通過調整目鏡與光纖端部之間的距離實現。

4.根據權利要求1所述的一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量方法，其特征在于：所述對測量結果進行校正的方法為通過引入校正系數校正。

5.一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量裝置，其特征在于：包括

鏡組探頭，連接在光纖一端，用于采集液晶屏產生的光學信號，并對光學信號進行處理變換后導入光纖一端；所述鏡組探頭包括殼體和位于殼體內同軸依次設置的物鏡、光闌和目鏡，所述目鏡設置在靠近光纖的一端；

光纖，用于將鏡組探頭采集處理后的光學信號傳導至測量設備；

測量設備，連接光纖另一端，用于檢測光纖傳導過來的光學信號，并對檢測結果進行校正。

6.根據權利要求5所述的一種基于光纖傳導的液晶屏光學參數測量裝置，其特征在于：所述物鏡和目鏡之間的距離為目鏡和物鏡的焦距之和，所述光纖一端位于目鏡的焦點上。