[發明專利]一種用于視覺成像測量系統的載具組件有效
| 申請號: | 201610148088.0 | 申請日: | 2016-03-16 |
| 公開(公告)號: | CN105651180B | 公開(公告)日: | 2019-05-28 |
| 發明(設計)人: | 吳加富;繆磊;張曉楠 | 申請(專利權)人: | 蘇州富強科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 史霞 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 視覺 成像 測量 系統 組件 | ||
本發明公開了一種用于視覺成像測量系統的載具組件,包括:第四導軌、以及設于所述第四導軌上的用于夾緊待測物且具有良好透光性載具,其中,所述載具可沿所述第四導軌來回往復滑動。本發明具有確保在短時間內有效夾緊待測物特別是小尺寸的待測物的同時,對待測物表面不至于造成損傷,并且通過對夾具主體的改進,來增加光線的通過,從而提高成像質量,減少重復測量,提高測量效率的有益效果。
技術領域
本發明涉及一種載具組件,更具體地,涉及一種用于視覺成像測量系統的載具組件。
背景技術
非接觸式尺寸測量裝置以光電、電磁、超聲波等技術為基礎,在儀器的測量元件不與被測物體表面接觸的情況下,即可獲得被測物體的各種外表或內在的尺寸數據特征。非接觸式尺寸測量系統與傳統的接觸式測距系統相比精度更高、操作更方便、安全系數更高、潔凈度高、測量過程中對被測物的污染程度小,從而被應用于工業生產及科學研究的多個領域。
典型的非接觸式尺寸測量方法如激光三角法、電渦流法、超聲測量法、視覺成像測量法、超聲波測量法等等,其中視覺成像測量法是指通過機器視覺產品(即圖像攝取裝置,分CMOS相機和CCD相機兩種,CMOS相機像素較高,大約為2500萬像素,CCD相機像素較低,大約為150萬像素)將被攝取目標轉換成圖像信號,傳送給專用的圖像處理系統,根據像素分布和亮度、顏色等信息,轉變成數字化信號,圖像系統對這些信號進行各種運算來抽取目標的特征,進而根據判別的結果來控制現場的設備動作,在測量缺陷和防止缺陷產品被配送到消費者的功能方面具有不可估量的價值。
在現有技術中,視覺成像測量系統的測量組件對于待測物表面及內部的復雜結構形狀的測量具有一定的局限性:首先,由于復雜結構的小尺寸待測物的結構比較復雜,放置在載具上比較難以夾緊;其次,對于具有復雜結構的小尺寸待測物,夾緊過程中花費時間過長,造成測量效率低下;最后,對于小尺寸的待測物,雖然夾緊了待測物,但是例如夾具、載具又會對環境光的入射產生遮擋,從而對待測物的成像質量產生影響。
發明內容
針對上述技術中存在的不足之處,本發明的目的是提供一種用于視覺成像測量系統的載具組件,對現有的載具進行優化改進,確保在短時間內有效夾緊待測物特別是小尺寸的待測物的同時,對待測物表面不至于造成損傷,并且通過對夾具主體的改進,來增加光線的通過,從而提高成像質量,減少重復測量,提高測量效率。為了實現根據本發明的這些目的和其他優點,提供了一種用于視覺成像測量系統的載具組件,其特征在于,包括:
第四導軌、以及設于所述第四導軌上的用于夾緊待測物且具有良好透光性載具,其中,所述載具可沿所述第四導軌來回往復滑動。
優選的是,所述載具包括:
與所述第四導軌滑動連接的載具基座;
設于該載具基座上的夾具支座、夾具壓頭、載盤組件;以及
設于所述載具基座下用于驅動所述夾具壓頭的旋轉氣缸。
優選的是,所述載盤組件包括設于所述夾具壓頭正下方的用于放置待測物的待測物載盤、以及設于所述待測物載盤旁側的至少一個光偏轉器載盤。
優選的是,所述光偏轉器載盤設有兩個,分別設于所述待測物載盤的左右兩側,并關于所述待測物載盤對稱設置。
優選的是,所述夾具壓頭包括夾具主體與夾具爪部,所述夾具主體的中部附近與所述夾具支座樞接,而其末端附近由所述旋轉氣缸支撐并驅動,所述夾具主體的前端的左右兩側對稱地固接有兩個所述夾具爪部。
優選的是,所述夾具爪部包括:
與所述夾具主體固接的爪部基體;以及
一體式地結合該爪部基體并沿所述爪部基體的前端向前延伸的爪部主體,其中,所述爪部主體的下表面一體式地連接有多個凸起部,相鄰所述凸起部之間間隔有一定距離,每個所述凸起部的下表面與待測物的接觸點處的尺寸特征相匹配。
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