[發(fā)明專利]放射線檢測裝置、放射線成像系統(tǒng)和制造方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610147423.5
• 申請日: 2016-03-15
• 公開（公告）號: CN105989906B
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 石田陽平
• 申請（專利權(quán)）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G21K4/00
• 分類號: G21K4/00
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所11038
• 代理人: 曾琳

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于放射線檢測的放射線檢測裝置、放射線成像系統(tǒng)和制造方法。

背景技術(shù)

存在包括閃爍體層的放射線檢測裝置，該閃爍體層具有形成在傳感器基板上的柱狀晶體。要求這樣的放射線檢測裝置通過在保持成像的銳度的同時高效地吸收發(fā)射的放射線來改進(jìn)使用效率。換句話說，有必要改進(jìn)放射線檢測元件的DQE(檢測用量子效率)和MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))兩者。

日本專利公開No.2002-48870公開了一種放射線檢測器，在該放射線檢測器中，布置了多個成像基板，每個成像基板具有閃爍體。在日本專利公開No.2002-48870中，閃爍體層形成在每個基板上，以使得當(dāng)布置復(fù)數(shù)個成像基板時它一直延伸到相鄰基板的邊界，并且基板被布置為防止閃爍體的分辨率降低和分離。日本專利No.4447752公開了一種放射線檢測器，該放射線檢測器被配置為通過形成覆蓋多個成像基板的透明膜并且在該透明膜上形成閃爍體來防止結(jié)點附近的分辨率降低和分離。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種放射線檢測裝置，該放射線檢測裝置具有有利于改進(jìn)MTF和DOE并且防止閃爍體層分離的結(jié)構(gòu)。

本發(fā)明的第一方面，本發(fā)明提供一種放射線檢測裝置，該放射線檢測裝置包括傳感器底座、傳感器基板、外周構(gòu)件以及閃爍體層，傳感器基板由傳感器底座支承，并且被配置為從多個像素輸出信號以供放射線檢測，外周構(gòu)件與傳感器基板分開地布置在傳感器基板的側(cè)表面的外周上，由傳感器底座支承，并且被配置為不輸出用于放射線檢測的信號，閃爍體層被配置為連續(xù)地覆蓋傳感器基板和外周構(gòu)件。

本發(fā)明的第二方面，本發(fā)明提供一種放射線成像裝置，該放射線成像裝置包括放射線源、傳感器底座、傳感器基板、外周構(gòu)件以及閃爍體層，放射線源被配置為產(chǎn)生放射線，傳感器基板由傳感器底座支承，并且被配置為從多個像素輸出信號以供放射線檢測，外周構(gòu)件與傳感器基板分開地布置在傳感器基板的側(cè)表面的外周上，由傳感器底座支承，并且被配置為不輸出用于放射線檢測的信號，閃爍體層被配置為連續(xù)地覆蓋傳感器基板和外周構(gòu)件。

本發(fā)明的第三方面，本發(fā)明提供一種制造放射線檢測裝置的方法，該方法包括：將傳感器基板和外周構(gòu)件放置在傳感器底座上，外周構(gòu)件與傳感器基板分開地布置為與傳感器基板的側(cè)表面相鄰，并且被配置為不輸出用于放射線檢測的信號；形成閃爍體層，以連續(xù)地覆蓋傳感器基板和外周構(gòu)件。

從以下參照附圖對示例性實施例的描述，本發(fā)明的進(jìn)一步的特征將變得清楚。

附圖說明

圖1A和1B分別是根據(jù)實施例的放射線檢測裝置的示意性頂視圖和示意性截面圖；

圖2A和2B是示出根據(jù)實施例的外周構(gòu)件的布置的示意圖；

圖3是根據(jù)實施例的傳感器面板的邊緣的示意性截面圖；

圖4A至4D是示出根據(jù)實施例的制造傳感器面板的方法的示意圖；

圖5是根據(jù)比較例子的傳感器面板的示意性截面圖；

圖6是根據(jù)實施例的傳感器面板的示意性截面圖；

圖7是根據(jù)實施例的傳感器面板的示意性截面圖；

圖8是根據(jù)實施例的傳感器面板的示意性截面圖；以及

圖9是示出根據(jù)實施例的放射線成像系統(tǒng)的布置的視圖。

具體實施方式

現(xiàn)在將參照附圖來詳細(xì)地描述根據(jù)本發(fā)明的實施例的放射線檢測裝置。該放射線檢測裝置包括檢測放射線的傳感器面板。傳感器面板是包括傳感器基板和閃爍體的器件，傳感器基板由按矩陣布置的光電轉(zhuǎn)換元件和開關(guān)元件形成，閃爍體將放射線轉(zhuǎn)換為可見光。注意，在本說明書中，放射線不僅包括X射線，而且還包括諸如α射線、β射線和γ射線的電磁波。

<第一實施例>