[發明專利]探針卡檢測裝置

在審

• 申請號: 201610145978.6
• 申請日: 2016-03-15
• 公開（公告）號: CN107192863A
• 公開（公告）日: 2017-09-22
• 發明（設計）人: 廖致傑;孫育民;程志豐
• 申請（專利權）人: 創意電子股份有限公司;臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/28
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006
• 代理人: 徐金國

技術領域

本發明有關于一種探針卡檢測裝置，尤指一種有助重復植針的探針卡檢測裝置。

背景技術

傳統探針卡包含測試電路板與探針組。探針組耦合測試電路板，探針組的探針觸接待測物(Device Under Test，DUT)以便測試電路板與待測物進行測試的存取。

為了從測試電路板上更換探針卡的探針組，以便對這些探針重新植針時，使用者必須解耦(Desoldering)探針與測試電路板，才能讓探針組順利脫離測試電路板。然而，因為解耦探針與測試電路板所帶來的高溫常常不小心導致測試電路板的焊墊或內部電路或者探針組的探針造成損壞，進而無法將這些探針于測試電路板上重新植針。

為此，若能提供一種解決方案的設計，可解決上述需求，讓業者于競爭中脫穎而出，即成為亟待解決的一重要課題。

發明內容

有鑒于此，本發明的一目的在于提供一種探針卡檢測裝置，用以解決以上先前技術所提到的困難。

依據本發明的一實施方式，此種探針卡檢測裝置包含一測試電路板、至少一彈性探針、至少一連接針架、至少一第一焊料部與至少一第二焊料部。測試電路板包含至少一導接墊。彈性探針的一端用以測試一待測物。連接針架電性連接彈性探針與測試電路板，特別是，連接針架的一端通過第一焊料部耦合彈性探針的另一端，連接針架的另一端通過第二焊料部耦合測試電路板的導接墊。第一焊料部具有第一熔點。第二焊料部不同第一焊料部，且具有大于第一熔點的第二熔點。

如此，由于測試電路板與彈性探針并非直接耦合在一起，是透過連接針架彼此間接連接，故，降低了彈性探針傷害測試電路板的導接墊或內部電路的機會。此外，為了將這些探針于測試電路板上重新植針，通過解耦(Desoldering)工具的溫差控制，即解耦溫度控制在低于第二熔點的溫度，本實施方式便能夠只讓彈性探針順利脫離測試電路板，不致讓連接針架脫離測試電路板，進而降低測試電路板因過高的高溫造成內部損壞。

在本發明一或多個實施方式中，探針卡檢測裝置還包含一探針組。探針組包含一探針基板與上述彈性探針。探針基板可分離地連接測試電路板，彈性探針固定于探針基板上。

在本發明一或多個實施方式中，彈性探針的那一端伸出探針基板相對測試電路板的一面，用以直接觸接待測物。

在本發明一或多個實施方式中，探針組還包含至少一頂針。頂針插設于探針基板相對測試電路板的一面，且電性連接彈性探針的那一端，用以直接觸接待測物。

在本發明一或多個實施方式中，導接墊具有一插孔。連接針架包含一架體、一第一連接部與一第二連接部。第一連接部位于架體的一端，用以固持彈性探針的另一端，第二連接部位于架體的另一端，用以插入插孔內。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架還包含一限位部。限位部位于架體上且介于第一連接部與第二連接部之間，用以將連接針架定位于導接墊上。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架的那一端具有一U字形連接部、一環狀連接部、一筒形連接部或一回紋針形連接部。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架具有多個凸肋，凸肋分別橫向伸出且抵靠導接墊，用以將連接針架懸掛于插孔上。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架的另一端具有一倒勾部或一彈性緊配部，用以固定于該導接墊的一插孔內。

在本發明一或多個實施方式中，第一焊料部的第一熔點為攝氏130度～攝氏200度。

依據本發明的另一實施方式，此種探針卡檢測裝置包含一測試電路板與多個連接針架。測試電路板包含多個導接墊。這些導接墊彼此間隔配置，每一導接墊中具有一插孔。每一連接針架的一端通過一焊料部耦合至其中一導接墊， 且插入導接墊的插孔內，其另一端用以耦合至一彈性探針上。焊料部的熔點為攝氏220度～攝氏280度。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架包含一架體、一第一連接部與一第二連接部。第一連接部位于架體的一端，用以固持彈性探針，第二連接部位于架體的另一端，用以伸入插孔內。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架還包含一限位部。限位部位于架體介于第一連接部與第二連接部之間，用以將連接針架定位于導接墊上。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架的另一端具有一U字形連接部、一環狀連接部、一筒形連接部或一回紋針形連接部。

在本發明一或多個實施方式中，連接針架具有多個凸肋，凸肋分別橫向伸出且抵靠導接墊，用以將連接針架懸掛于插孔上。