[發(fā)明專利]激光快速成形TC4材料射線衰減系數(shù)與鍛造TC4射線衰減系數(shù)差異比較測(cè)量工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610144508.8 | 申請(qǐng)日： | 2016-03-15 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN105823787A | 公開(kāi)（公告）日： | 2016-08-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 鄔冠華;王嬋;吳偉;李澤;周筆文;馬龍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 南昌航空大學(xué);西安航空動(dòng)力股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N23/04 | 分類號(hào)： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 南昌洪達(dá)專利事務(wù)所 36111 | 代理人： | 劉凌峰 |
| 地址： | 330063 江*** | 國(guó)省代碼： | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 激光 快速 成形 tc4 材料 射線 衰減系數(shù) 鍛造 差異 比較 測(cè)量 工藝 | ||
【說(shuō)明書】：
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
