[發明專利]一種ADC芯片參考電壓測試校準方法在審
| 申請號： | 201610143948.1 | 申請日： | 2016-03-14 |
| 公開（公告）號： | CN105811982A | 公開（公告）日： | 2016-07-27 |
| 發明（設計）人： | 萬上宏;葉媲舟;黎冰;涂柏生 | 申請（專利權）人： | 深圳市博巨興實業發展有限公司 |
| 主分類號： | H03M1/10 | 分類號： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 深圳力拓知識產權代理有限公司 44313 | 代理人： | 龔健 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 adc 芯片 參考 電壓 測試 校準 方法 | ||
【說明書】：
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