[發明專利]基于機器視覺的密封圈表面缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201610141550.4
• 申請日: 2016-03-11
• 公開（公告）號: CN105784713B
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 何博俠;童楷杰
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 朱沉雁

1.一種基于機器視覺的密封圈表面缺陷檢測方法，其特征在于，方法步驟如下：

步驟1、采集密封圈表面圖像，并對采集到的圖像進行自適應中值濾波處理；

步驟2、計算出上述圖像的灰度水平梯度和豎直梯度，并據此提取出圖像中存在的灰度折角結構；所述步驟2中，采用一階導數梯度算子計算圖像灰度水平梯度和豎直梯度，然后根據折角結構頂點像素在灰度上應滿足的條件對經自適應中值濾波處理后的圖像中各像素點進行遍歷篩選，從而提取出符合條件的灰度折角結構；

步驟3、對各折角特征點鄰域進行分割并計算分割域的灰度均值；所述步驟3中，各折角特征點鄰域分割方法如下：依據步驟2所提取的灰度折角結構及其頂點，從該頂點出發搜尋出灰度折角結構的兩條輪廓邊，并反向延長，從而將該頂點鄰域分割成4個子區域，分別為S₁、S₂、S₃和S₄，選擇各子區域內與頂點最近的N個像素，N≥1，計算像素灰度均值；

步驟4、采用描述分割域灰度差異程度的函數值作為缺陷判定準則，篩選出缺陷輪廓點，實現對密封圈表面缺陷的檢測；所述步驟4中，描述分割域灰度差異程度的函數為：

根據計算的各灰度折角結構對應的函數值β，設定函數值閾值，大于該閾值的灰度折角結構頂點為缺陷輪廓點，反之，認定為偽點進行剔除。