[發(fā)明專利]一種可探測裝置和探測系統(tǒng)及探測物體的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610140673.6
• 申請日: 2016-03-11
• 公開（公告）號: CN107180257B
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 施政
• 申請（專利權(quán)）人: 施政
• 主分類號: G06K19/07
• 分類號: G06K19/07;G06K19/077;G06K7/10;G01R27/26
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1.一種探測系統(tǒng)，其特征在于：

包含：

一個(gè)主機(jī)；

一個(gè)可探測裝置，包含一個(gè)本體以及一個(gè)或多個(gè)射頻識別標(biāo)簽，其中，所述本體至少部分由弱導(dǎo)電材料構(gòu)成，所述一個(gè)或多個(gè)射頻識別標(biāo)簽置于所述本體內(nèi)；

一個(gè)電容傳感器，當(dāng)所述可探測裝置放置于所述電容傳感器的探測范圍內(nèi)時(shí)，所述電容傳感器以電容耦合方式探測所述可探測裝置，探測結(jié)果傳給所述主機(jī)；

一個(gè)射頻識別讀頭，當(dāng)所述可探測裝置放置于所述讀頭的探測范圍內(nèi)時(shí)，所述讀頭讀取所述射頻識別標(biāo)簽的值并傳給所述主機(jī)，所述主機(jī)根據(jù)一個(gè)預(yù)設(shè)的對應(yīng)數(shù)據(jù)關(guān)系判定所述射頻識別標(biāo)簽的身份；

其中，所述電容耦合方式為，所述電容傳感器與所述弱導(dǎo)電材料發(fā)生電容耦合，得到第一組耦合值，傳給所述主機(jī)；當(dāng)所述探測系統(tǒng)外的一個(gè)外來物接觸靜止的所述可探測裝置時(shí)，所述電容傳感器經(jīng)所述弱導(dǎo)電材料同所述外來物發(fā)生電容耦合，得到第二組耦合值，傳給所述主機(jī)；當(dāng)所述第二組耦合值大于所述第一組耦合值時(shí)，所述主機(jī)根據(jù)一個(gè)預(yù)設(shè)的對應(yīng)數(shù)據(jù)關(guān)系判定所述外來物接觸所述可探測裝置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

當(dāng)所述本體僅部分由弱導(dǎo)電材料構(gòu)成時(shí)，所述弱導(dǎo)電材料在所述本體上的分布，為從所述本體的一端經(jīng)由所述本體內(nèi)部或所述本體的表面到另一端連通。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

所述本體的構(gòu)造是，分為兩層，中間夾著所述射頻識別標(biāo)簽。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

所述本體為筆尖和筆身構(gòu)造，所述筆身為手所把持，所述筆尖與一種智能交互面接觸。

5.一種根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)的探測物體的方法，其特征在于：所述方法由所述探測系統(tǒng)來實(shí)施，流程如下：

步驟一，啟動(dòng)所述探測系統(tǒng)；

步驟二，所述電容傳感器探測是否存在所述可探測裝置，若無，則待機(jī)，繼續(xù)探測；

并且，

所述射頻識別讀頭探測是否存在所述射頻識別標(biāo)簽，若無，則待機(jī)，繼續(xù)探測；

步驟三，當(dāng)所述電容傳感器探測到所述可探測裝置時(shí)，得到所述第一組耦合值，傳送給所述主機(jī)；

并且，

當(dāng)所述射頻識別讀頭探測到所述射頻識別標(biāo)簽，傳送給所述主機(jī)；

步驟四，當(dāng)所述探測系統(tǒng)外的一個(gè)外來物接觸靜止的所述可探測裝置時(shí)，所述電容傳感器探測得到所述第二組耦合值，傳給所述主機(jī)；

步驟五，所述主機(jī)比對所述第一組耦合值和所述第二組耦合值；

步驟六，當(dāng)比對的結(jié)果為所述第二組耦合值大于所述第一組耦合值時(shí)，根據(jù)一個(gè)預(yù)設(shè)的對應(yīng)數(shù)據(jù)關(guān)系，所述主機(jī)判定所述外來物接觸所述可探測裝置；

當(dāng)該兩組所述耦合值相等時(shí)，所述主機(jī)根據(jù)一個(gè)預(yù)設(shè)的對應(yīng)數(shù)據(jù)關(guān)系判定所述外來物未接觸所述可探測裝置，則待機(jī)，繼續(xù)探測。