[發明專利]集成電路的漏電測試有效
| 申請號： | 201610140288.1 | 申請日： | 2016-03-11 |
| 公開（公告）號： | CN105974296B | 公開（公告）日： | 2019-08-20 |
| 發明（設計）人： | R·P·米卡洛 | 申請（專利權）人： | 格羅方德半導體公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京戈程知識產權代理有限公司 11314 | 代理人： | 程偉;王錦陽 |
| 地址： | 英屬開曼群*** | 國省代碼： | 開曼群島;KY |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 集成電路 漏電 測試 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于格羅方德半導體公司，未經格羅方德半導體公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610140288.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
