[發明專利]一種消除顯示設備Mura的方法、消除顯示設備Mura裝置和顯示設備在審
| 申請號: | 201610140183.6 | 申請日: | 2016-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN107180605A | 公開(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發明(設計)人: | 田廣;王中琦 | 申請(專利權)人: | 青島海信電器股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/20 | 分類號: | G09G3/20;G09G3/34;G09G3/36 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 266100 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 消除 顯示 設備 mura 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明的實施例涉及電子技術領域,尤其涉及一種消除顯示設備Mura(云紋)的方法、消除顯示設備Mura裝置和顯示設備。
背景技術
液晶顯示設備在使用時的亮度均勻程度是衡量液晶顯示設備顯示效果的重要指標之一,液晶顯示設備在使用時因亮度不均勻而導致出現各種污染斑塊,會導致用戶使用舒適度下降。這種液晶顯示設備在使用時亮度分布不均勻,影響畫質效果的現象,被稱為Mura。Mura是指顯示器工作時,像素矩陣表面可見的顯示不完美。Mura缺陷一般大于一個像素單元,沒有固定的形狀,邊緣模糊,對比度較低。
現有技術中,Mura缺陷的產生原因主要是因為液晶顯示設備電路或構造上的缺陷或材料特性的不均勻,以及加工條件的變動等復合的結果。由于液晶顯示設備的制造工藝非常復雜,有上百道工序,上述工序中的各個環節若處理不得當,均有可能造成Mura缺陷的產生。因此為了消除Mura對液晶顯示設備的影響,通常通過對存在Mura的液晶顯示設備進行調制來進行De-Mura(云紋消除),例如:對液晶顯示設備的Mura信息進行分析,得到Mura區域的位置以及包含該區域Mura信息的De-Mura補償系數,再根據De-Mura補償系數對液晶顯示設備相應區域的顯示內容進行相應的調制,抑制與消除其中包含的Mura信息,以提高顯示內容畫面的一致性,從而使顯示內容的觀看效果得到改善。
但是現有的De-Mura方法在對顯示設備Mura區域進行調制的過程中,通常需獲取顯示設備全部區域的De-Mura補償系數,而由于用于進行調制的芯片需要把數據讀到緩存(SDRAM)中做計算,現有技術中設備配備的SDRAM容量一般較小,獲取De-Mura補償系數的過程會占用較多空間資源,同時隨著顯示設備分辨率與尺寸的增加,上述過程所占用的SDRAM容量也會隨之呈指數增加,增加了設備制造的成本,從而使對存 在Mura的顯示設備進行調制的成本大幅度上升,降低De-Mura的可行性。
發明內容
本發明的實施例提供一種消除顯示設備Mura的方法、消除顯示設備Mura裝置和顯示設備,能夠僅根據顯示設備部分區域的De-Mura補償系數,對顯示設備全部區域進行De-Mura處理,降低了De-Mura處理對資源的占用,提高De-Mura處理效率,同時保證De-Mura處理效果。
第一方面,本發明實施例提供了一種消除顯示設備Mura的方法,應用于顯示屏幕,其中顯示屏幕包括按矩陣分布的顯示單元,其中每個顯示單元包含至少一個像素單元,其特征在于,包括:
獲取至少一個標準顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數,De-Mura查找表至少包含標準顯示單元在當前亮度等級下與De-Mura補償系數的對應關系,標準顯示單元按照預設規律分布于所述顯示屏幕中;
根據至少一個標準顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數,得到其他顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數;
根據其他顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數對其他顯示單元進行處理。
第二方面,本發明實施例提供了一種消除顯示設備Mura裝置,應用于顯示屏幕,其中顯示屏幕包括按矩陣分布的顯示單元,其中每個顯示單元包含至少一個像素單元,其特征在于,包括:
處理單元,用于獲取至少一個標準顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數,De-Mura查找表至少包含標準顯示單元在當前亮度等級下與De-Mura補償系數的對應關系,標準顯示單元按照預設規律分布于顯示屏幕中;根據至少一個標準顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數,得到其他顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數;
補償單元,用于根據其他顯示單元在一個亮度等級下的De-Mura補償系數對其他顯示單元進行處理。
第三方面,本發明實施例提供了一種顯示設備,顯示屏幕,以及上述任一種消除顯示設備Mura裝置。
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