[發(fā)明專利]用于TFT-LCD顯示面板的電性測試裝置及其電性測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610140055.1
• 申請日: 2016-03-11
• 公開（公告）號: CN105589275B
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孟林
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/1368
• 分類號: G02F1/1368;G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦

1.一種用于TFT-LCD顯示面板的電性測試裝置，其特征在于，包括：

探針；

步進(jìn)組件，與所述探針連接，用于驅(qū)動所述探針以預(yù)設(shè)步進(jìn)量進(jìn)行步進(jìn)伸縮，使得所述探針穿過所述TFT-LCD顯示面板的絕緣膜，以對設(shè)于所述絕緣膜下的導(dǎo)電體進(jìn)行測試；

其中，所述步進(jìn)組件包括：

螺桿，與所述探針連接，所述螺桿具有多圈螺牙；

馬達(dá)，與所述螺桿相裝配，用于以螺牙圈數(shù)為單位步進(jìn)量驅(qū)動所述螺桿旋轉(zhuǎn)以使所述探針步進(jìn)地伸縮；

其中，所述電性測試裝置還包括控制單元，所述控制單元與所述馬達(dá)電連接，所述控制單元包括：

檢測模塊，用于檢測所述探針的針頭與所述導(dǎo)電體之間的距離；

計算模塊，與所述檢測模塊電連接，用于根據(jù)所述距離計算所述螺桿需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)；

控制模塊，與所述計算模塊電連接，用于控制馬達(dá)按所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動所述螺桿旋轉(zhuǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測試裝置，其特征在于，所述電性測試裝置還包括測試單元，所述測試單元通過導(dǎo)線與所述探針電連接，以接收所述探針的回傳信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測試裝置，其特征在于，所述探針與所述螺桿連接方式為套接、螺旋連接或焊接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于TFT-LCD顯示面板的電性測試裝置，其特征在于，所述電性測試裝置還包括顯示單元，所述顯示單元與所述控制單元電連接，以顯示所述距離和所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)。

5.一種TFT-LCD顯示面板的電性測試方法，其特征在于，所述方法包括步驟：

預(yù)設(shè)步進(jìn)組件的步進(jìn)量；

所述步進(jìn)組件驅(qū)動探針以所述步進(jìn)量進(jìn)行步進(jìn)伸縮于所述TFT-LCD顯示面板中的絕緣膜；其中，所述步進(jìn)組件的馬達(dá)以螺牙圈數(shù)為單位步進(jìn)量驅(qū)動螺桿旋轉(zhuǎn)，以使所述探針步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過所述絕緣膜；其中，檢測所述探針的針頭與設(shè)于所述絕緣膜下的導(dǎo)電體之間的距離；根據(jù)所述距離計算所述螺桿的螺桿需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)；控制所述馬達(dá)按所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動所述螺桿旋轉(zhuǎn)以帶動所述探針步進(jìn)旋轉(zhuǎn)地穿過所述絕緣膜；

所述探針抵接設(shè)于所述絕緣膜下的導(dǎo)電體并進(jìn)行電性測試。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的TFT-LCD顯示面板的電性測試方法，其特征在于，所述控制馬達(dá)按所述需旋轉(zhuǎn)的螺牙圈數(shù)驅(qū)動所述螺桿旋轉(zhuǎn)的步驟之后包括：

時時檢測并顯示所述探針的針頭與所述導(dǎo)電體之間的距離；

如果在所述探針停止步進(jìn)時的所述距離大于零，則根據(jù)所述距離重新計算所述螺桿繼續(xù)旋轉(zhuǎn)的續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)；

控制所述馬達(dá)按所述續(xù)轉(zhuǎn)螺牙圈數(shù)驅(qū)動所述螺桿繼續(xù)旋轉(zhuǎn)。