[發(fā)明專利]一種高反射物體表面光場(chǎng)偏折術(shù)測(cè)量系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610138787.7 | 申請(qǐng)日： | 2016-03-12 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN105806257B | 公開（公告）日： | 2019-02-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張旭;賈君慧;李晨 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01B11/25 | 分類號(hào)： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 反射 物體 表面光 場(chǎng)偏折術(shù) 測(cè)量 系統(tǒng) 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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- 一種用于測(cè)量翼型或葉柵表面流場(chǎng)的噴射式光譜探針
- 一種光場(chǎng)偏折術(shù)測(cè)量系統(tǒng)標(biāo)定鏡及其應(yīng)用方法
- 一種高反射物體表面光場(chǎng)偏折術(shù)測(cè)量系統(tǒng)和方法
- 檢測(cè)非球面的相位測(cè)量偏折方法
- 一種動(dòng)目標(biāo)大氣擾動(dòng)特性仿真方法
- 相位偏折術(shù)在玻璃缺陷檢測(cè)的應(yīng)用
- 一種相位測(cè)量偏折術(shù)的標(biāo)定優(yōu)化方法、裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種反射表面缺陷檢測(cè)裝置和控制方法
- 一種光譜吸收率分布獲取方法及系統(tǒng)
- 基于曲面屏相位偏折的大曲率鏡面三維形貌測(cè)量方法
