[發明專利]基于遺傳規劃的模擬電路故障測試最優序貫搜索方法

有效

• 申請號: 201610136480.3
• 申請日: 2016-03-10
• 公開（公告）號: CN105629156B
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 楊成林;張貞
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R31/316
• 分類號: G01R31/316;G06N3/12
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙)51220
• 代理人: 溫利平,陳靚靚

1.一種基于遺傳規劃的模擬電路故障測試最優序貫搜索方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：根據模擬電路的測試依賴矩陣隨機生成Q個故障診斷樹；

S2：令迭代次數w＝1；

S3：計算每個故障診斷樹所對應的測試代價的倒數，作為該故障診斷樹的個體適應度；

S4：根據各故障診斷樹的個體適應度選擇得到父個體集合；

S5：將父個體集合中的個體隨機分為Q/2組，然后以組為單位，比較每組中的兩個個體是否存在故障集相同的結點，如果某組中的兩個個體不存在故障集相同的結點，則該組不進行交叉操作，如果某組中的兩個個體存在故障集相同的結點，首先刪除大小等于M-1或等于1的相同故障集，M表示故障集S中故障數量，在剩余的相同故障集中任意選擇一個故障集，交換該故障集結點及其子樹；

S5：對于交叉后的每個個體，任意選擇一個測點結點，對應測點記為t，從該測點結點的可用測點集中選擇另外一個測點t′，t′≠t，并且該測點t′能夠分割當前測點所對應的故障集，將當前測點t更換為測點t′，重新生成該測點結點下的子樹；

S6：如果w＝W，W表示最大迭代次數，進入步驟S7，否則令w＝w+1，返回步驟S3；

S7：從當前的Q個故障診斷樹中選擇測試代價最小的故障診斷樹，作為最終故障診斷樹。

2.根據權利要求1所述的基于遺傳規劃的模擬電路故障測試最優序貫搜索方法，其特征在于，所述步驟S1中故障診斷樹的生成方法為：

S1.1：令根結點p₀＝S，令層數初始值k＝0；

S1.2：統計第k層故障集結點數量D_k；

S1.3：如果D_k＝0，故障診斷樹生成結束，否則進入步驟S1.4；

S1.4：令故障集結點序號d＝1；

S1.5：首先確定當前測點結點的可用測點集φ＝T-T′，T′表示當前測點結點上層結點的測點集合，從可用測點集φ中任意選擇一個可以分割故障集S_kd的測點t，S_kd即表示第k層第d個故障集結點所對應的故障集，令測點結點t_kd＝t，根據測點t的分割結果確定故障集S_kd的子故障集S_kd-left和S_kd-right，如果不存在可以分割故障集S_kd的測點，則不做任何操作；

S1.6：如果d＜D_k，令d＝d+1，返回步驟S405，否則令k＝k+1，返回步驟S1.2。