[發(fā)明專利]用于通過離子銑處理試樣的方法、設(shè)備、系統(tǒng)和軟件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610134900.4 | 申請日： | 2016-03-09 |
| 公開（公告）號： | CN105957789B | 公開（公告）日： | 2020-05-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 迪米特里·博古斯拉沃斯基;馬克·科沃爾 | 申請（專利權(quán)）人： | IB實驗室有限公司 |
| 主分類號： | H01J37/20 | 分類號： | H01J37/20 |
| 代理公司： | 四川力久律師事務(wù)所 51221 | 代理人： | 韓洋;熊曉果 |
| 地址： | 美國紐約市*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 通過 離子 處理 試樣 方法 設(shè)備 系統(tǒng) 軟件 | ||
【說明書】：
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