[發明專利]用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置

在審

• 申請號: 201610131662.1
• 申請日: 2016-03-09
• 公開（公告）號: CN105784342A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發明（設計）人: 鐘回周;彭路星;嚴偉中;陸建國
• 申請（專利權）人: 杭州奧騰電子股份有限公司
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00
• 代理公司: 浙江永鼎律師事務所 33233
• 代理人: 陸永強;張建

技術領域

本發明屬于耐久性測試裝置技術領域，尤其是涉及一種用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置。

背景技術

按鍵失效更容易發生在低溫或高溫環境下，而目前按鍵測試裝置多數采用氣缸驅動、電磁鐵驅動或電機驅動，并且測試控制和按鍵執行設計成一體機形式，這些方案不便于將按鍵測試置于低溫或高溫環境中進行。現有的按鍵耐久性測試裝置主要通過電機驅動按鍵桿往復升降運動來觸發按鍵進行測試，這樣無法準確知道對按鍵施加的壓力。并且現有的按鍵耐久性測試裝置還存在著結構復雜，自動化程度低等問題。

例如，中國專利文獻公開了一種按鍵測試儀[申請號：CN201220308568.6]，包括支架，所述支架包括架體和用于放置按鍵的底板，所述支架上設置有可相對所述架體往復滑動且用于按壓開關的壓桿，所述支架上還設置有用于驅動所述壓桿滑動的凸輪構件和連接于所述凸輪構件的驅動件；所述按鍵測試儀還包括可連接于測試按鍵，用于監測其有效通斷次數的第一計數繼電器和用于監測所述凸輪構件轉動圈數或所述壓桿往復滑動次數的第二計數繼電器，所述第二計數繼電器與所述驅動件之間電連接。按鍵測試儀測試開關壽命的過程省時省力，且檢測結果穩定，可靠性高。

上述方案在一定程度上改進了現有技術存在的部分問題，例如結構復雜，自動化程度低的問題，但是方案中依然存在著：無法在高溫或者低溫環境下對按鍵進行測試，按鍵力大小不確定且無法進行調節，一次只能對一個按鍵進行測試，工作效率低等技術問題。

發明內容

本發明的目的是針對上述問題，提供一種設計合理、結構簡單，按鍵力大小確定的用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置。

為達到上述目的，本發明采用了下列技術方案：本用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置包括架體，所述的架體上設有至少一個位于變溫區內且具有按壓桿的按鍵測試執行機構，在按壓桿上安裝有測試砝碼，所述的按壓桿一端連接有能在升降驅動器作用下帶動按壓桿軸向向上移動且通過自重向下移動從而實現軸向升降的升降傳動結構，且所述的升降驅動器設置于變溫區外側。升降驅動器位于變溫區外側，能夠在按鍵測試執行機構位于變溫區內時正常工作，故本用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置能夠在高溫或者低溫環境下對按鍵進行測試。升降傳動結構帶動按壓桿軸向向上移動且通過自重向下移動，故往下按的按鍵力大小就是測試砝碼與按壓桿的重力，按鍵力的大小是確定的。測試砝碼更換后，按鍵力的大小即發生變化。

在上述的用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置中，所述的升降傳動結構包括沿水平方向設置在架體上的主動軸，所述的主動軸一端延伸至變溫區外且通過第一傳動組件與升降驅動器相連從而實現升降驅動器帶動主動軸周向轉動，另一端通過第二傳動組件連接有至少一個設置在主動軸下方且能與主動軸同步周向轉動的從動軸，所述的按鍵測試執行機構均設置在從動軸上，且所述的按鍵測試執行機構與從動軸之間設有當從動軸周向轉動時能驅動按壓桿軸向向上移動且在通過自重向下移動的按壓傳動組件。與主動軸同步周向轉動的從動軸的數量為至少一個，而從動軸上又能設置至少一個按鍵測試執行機構，從而能夠實現對多個按鍵同時進行測試。

在上述的用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置中，所述的按壓傳動組件包括至少一個設于從動軸上的凸輪體，所述的凸輪體與從動軸之間設有能使凸輪體與從動軸周向定位且軸向滑動相連的定位結構，所述的凸輪體周向外側設有環形凸緣，且所述的環形凸緣周向內側滑動設有能始終抵靠于環形凸緣的滾珠，且所述的滾珠通過可拆式結構連接有與按壓桿相連的連接件。凸輪體與從動軸之間設有能使凸輪體與從動軸周向定位且軸向滑動相連的定位結構，方便凸輪體的裝配。

在上述的用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置中，每一個從動軸上凸輪體的數量為至少兩個，且所述的凸輪體一一對應設置或一一錯位設置。能實現對多個按鍵同時進行測試，并達到負載均衡。

在上述的用于廣泛溫度范圍內的按鍵耐久性測試裝置中，所述的定位結構包括沿從動軸軸向延伸設置的條形凹槽，所述的凸輪體套設于從動軸上且在凸輪體上設有與條形凹槽相匹配且滑動相連的凸塊，且所述的凸輪體與從動軸通過插銷結構相連。方便凸輪體的裝配。