[發明專利]一種CICC導體性能測試系統在審
| 申請號： | 201610127807.0 | 申請日： | 2016-03-07 |
| 公開（公告）號： | CN105988053A | 公開（公告）日： | 2016-10-05 |
| 發明（設計）人： | 吳向陽;房震;譚運飛;陳文革;陳治友;匡光力;劉章洋;高洋;蔣冬輝;鄒貴弘;黃鵬程 | 申請（專利權）人： | 中國科學院合肥物質科學研究院 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 安徽合肥華信知識產權代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031 *** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 cicc 導體 性能 測試 系統 | ||
【說明書】：
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