[發(fā)明專利]一種校正測量數(shù)據(jù)的方法及裝置

有效

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• 申請日: 2016-03-04
• 公開（公告）號: CN107154802B
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發(fā)明（設計）人: 覃偉和;管洲;宋海宏;楊煉
• 申請（專利權）人: 深圳市匯頂科技股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 陳健

本發(fā)明公開了一種校正測量數(shù)據(jù)的方法及裝置，該方法包括：當接收到主控制器的啟動命令時，使能ADC將模擬測量數(shù)據(jù)轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)，并將該數(shù)字數(shù)據(jù)劃分為預置數(shù)量的多段數(shù)據(jù)范圍，并根據(jù)輸入該ADC的已知標準電壓，以及該已知標準電壓對應的理論輸出電壓值和實際輸出電壓值，得到與每段數(shù)據(jù)范圍對應的校正系數(shù)，并按照該校正系數(shù)校正該數(shù)字數(shù)據(jù)。本發(fā)明通過對ADC輸出的數(shù)據(jù)進行多段線性數(shù)據(jù)范圍的劃分，并計算得到每段數(shù)據(jù)范圍對應的校正參數(shù)，之后根據(jù)校正參數(shù)校正ADC輸出的非線性誤差，用以提高ADC的測量精度。

技術領域

本發(fā)明屬于電子技術領域，尤其涉及一種校正測量數(shù)據(jù)的方法及裝置。

背景技術

模數(shù)轉換器(Anolog Digital Converter，ADC)是電路設計中常用的元器件，其作用是將連續(xù)的模擬量轉換為離散的數(shù)字信號，理想的ADC設計電路的輸入值與理論輸出電壓值是一致的且呈線性變化，但由于元器件誤差、系統(tǒng)噪聲以及器件老化等原因，ADC的實際輸出電壓值與理論輸出電壓值存在較大的誤差，且整個輸入與輸出范圍內呈非線性變化，因此在高精度模擬信號測量中，需對ADC的輸出值做校正。

現(xiàn)有技術中，用于提高ADC測量精度的方法主要有以下兩種方式：

第一種方式為模擬校正，即增加額外的電路去控制ADC器件，模擬校正的方法需增加額外的硬件資源，從而增加了測試成本；

第二種方式為數(shù)字校正，即對ADC采集后的數(shù)據(jù)用算法校正，適用于ADC在整個輸入和輸出范圍內呈線性變化，然而當該范圍非線性時，校正運算出的結果也會因此出現(xiàn)較大的誤差，造成校正失敗。

發(fā)明內容

本發(fā)明提供一種校正測量數(shù)據(jù)的方法及裝置，通過對ADC輸出的數(shù)據(jù)進行多段線性數(shù)據(jù)范圍的劃分，并計算得到每段數(shù)據(jù)范圍對應的校正參數(shù)，之后根據(jù)校正參數(shù)校正ADC輸出的數(shù)據(jù)，用以提高ADC的測量精度。

本發(fā)明提供的一種校正測量數(shù)據(jù)的方法，包括：

當接收到主控制器的啟動命令時，使能模數(shù)轉換器將模擬測量數(shù)據(jù)轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)，將所述數(shù)字數(shù)據(jù)劃分為預置數(shù)量的多段數(shù)據(jù)范圍，并根據(jù)輸入所述模數(shù)轉換器的已知標準電壓，以及所述已知標準電壓對應的理論輸出電壓值和實際輸出電壓值，得到與每段所述數(shù)據(jù)范圍對應的校正系數(shù)；按照所述校正系數(shù)校正所述數(shù)字數(shù)據(jù)。

本發(fā)明提供的一種校正測量數(shù)據(jù)的裝置，包括：

使能模塊，用于當接收到主控制器的啟動命令時，使能模數(shù)轉換器將模擬測量數(shù)據(jù)轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)；劃分模塊，用于將所述數(shù)字數(shù)據(jù)劃分為預置數(shù)量的多段數(shù)據(jù)范圍；計算模塊，用于根據(jù)輸入所述模數(shù)轉換器的已知標準電壓，以及所述已知標準電壓對應的理論輸出電壓值和實際輸出電壓值，得到與每段所述數(shù)據(jù)范圍對應的校正系數(shù)；校正模塊，用于按照所述校正系數(shù)校正所述數(shù)字數(shù)據(jù)。

從上述本發(fā)明實施例可知，通過ADC將模擬測量數(shù)據(jù)轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)，將ADC輸出的該數(shù)字數(shù)據(jù)進行多段線性數(shù)據(jù)范圍的劃分，將ADC輸出非線性數(shù)據(jù)范圍微分為多段近似線性數(shù)據(jù)范圍，并計算得到每段數(shù)據(jù)范圍對應的校正參數(shù)，之后根據(jù)校正參數(shù)校正ADC輸出的數(shù)據(jù)，以此校正ADC輸出的非線性數(shù)據(jù)的誤差，提高ADC輸出信號的精度，從而進一步提高ADC的測量精度。在不增加設備成本的基礎上，解決了現(xiàn)有技術中對非線性數(shù)據(jù)的誤差校正效果差的問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明實施例中校正測量數(shù)據(jù)的方法的應用場景示意圖；

圖2是本發(fā)明第一實施例提供的校正測量數(shù)據(jù)的方法的實現(xiàn)流程示意圖；