[發(fā)明專利]基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器及制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610124746.2 | 申請日: | 2016-03-04 |
| 公開(公告)號: | CN105759468B | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張春福;韓根全;彭芮之;郝躍;張進(jìn)城;馮倩 | 申請(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | G02F1/03 | 分類號: | G02F1/03;B82Y40/00;B82Y30/00 |
| 代理公司: | 陜西電子工業(yè)專利中心 61205 | 代理人: | 田文英;王品華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 斯塔克效應(yīng) soup 結(jié)構(gòu) 光電 調(diào)制器 制作方法 | ||
1.一種基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器,包括:襯底(1)、氧化下包絡(luò)基座上的硅SOUP結(jié)構(gòu)波導(dǎo)(2)、吸收區(qū)(3)、左電極(4)和右電極(5);其特征在于:所述吸收區(qū)(3)由GeSn量子阱和SiGeSn勢壘層橫向交疊排列組成;所述量子阱采用Sn組分為0.9的GeSn單晶材料;所述勢壘層采用Sn組分為0.15、Ge組分為0.75的單晶材料。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器,其特征在于,所述的勢壘層的單晶材料晶格常數(shù)a1與量子阱的應(yīng)變單晶材料的晶格常數(shù)a2相等。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器,其特征在于,所述的襯底(1)采用Si單晶材料。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器,其特征在于,所述的左電極(4)在硅波導(dǎo)上形成Al/Ti歐姆接觸;所述的右電極(5)在吸收區(qū)上形成Al/Ti歐姆接觸。
5.一種基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器制作方法,包括如下步驟:
(1)注氧隔離:
利用注氧隔離方法,將氧離子注入硅中,在硅中形成埋氧化層SiO2,得到位于埋氧化層SiO2上面的硅波導(dǎo)和位于埋氧化層SiO2下面的硅襯底;
(2)刻蝕硅波導(dǎo):
(2a)利用刻蝕工藝,將硅波導(dǎo)的左端和右端刻蝕去除硅波導(dǎo)長度的百分之一后,將硅波導(dǎo)右側(cè)減薄至硅波導(dǎo)刻蝕之前厚度的7%-8%;
(2b)用丙酮和等離子體清洗15分鐘,除去光刻膠,得到刻蝕后的硅波導(dǎo);
(3)刻蝕SOUP結(jié)構(gòu):
利用刻蝕工藝,對埋氧化層SiO2進(jìn)行切邊,得到氧化下包絡(luò)基座上的硅SOUP結(jié)構(gòu),氧化下包絡(luò)基座上的硅SOUP結(jié)構(gòu)的下包絡(luò)基座的下底寬度的取值大于等于上底寬度的取值;
(4)低壓化學(xué)氣相沉積:
(4a)在低壓環(huán)境下通入前驅(qū)氣體;
(4b)通入Sn組分為0.9的氣態(tài)GeSn;
(4c)將工作溫度加熱至350℃,得到沉積在減薄的硅波導(dǎo)表面上的本征GeSn單晶;
(5)刻蝕量子阱:
利用刻蝕工藝,將本征GeSn單晶刻成橫向量子阱,得到GeSn量子阱與間隙在橫向的交疊排列;
(6)低壓化學(xué)氣相沉積:
(6a)在低壓環(huán)境下通入前驅(qū)氣體;
(6b)通入氣態(tài)SiGeSn,其中,Ge的組分為0.75、Sn的組分為0.15;
(6c)將工作溫度加熱至350-450℃,得到沉積在橫向量子阱的間隙中的SiGeSn勢壘層;
(7)淀積電極:
將鋁/鈦金屬依次進(jìn)行蒸發(fā)、升空、快速熱退火的處理后,得到兩端具有矩形框體歐姆接觸的光電調(diào)制器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器制作方法,其特征在于,步驟(1)中所述氧離子的劑量為1.8×1018cm-2,能量為200KeV。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器制作方法,其特征在于,步驟(4a)所述的前驅(qū)氣體采用Ge2H6或SnCl4;當(dāng)工作壓強(qiáng)為120Pa時,采用Ge2H6;當(dāng)工作壓強(qiáng)為0.6Pa時,采用SnCl4。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于斯塔克效應(yīng)的SOUP結(jié)構(gòu)光電調(diào)制器制作方法,其特征在于,步驟(6a)所述的前驅(qū)氣體采用Si2H6、Ge2H6或SnCl4;當(dāng)工作壓強(qiáng)為60Pa時,采用Si2H6;當(dāng)工作壓強(qiáng)為120Pa時,采用Ge2H6;當(dāng)工作壓強(qiáng)為0.6Pa時,采用SnCl4。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安電子科技大學(xué),未經(jīng)西安電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610124746.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種VA型液晶顯示器定向摩擦深度的檢測方法
- 下一篇:眼鏡用雨刷器
- 同類專利
- 專利分類
G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
- 收集排放污染物的過濾器
- 基于量子限制斯塔克效應(yīng)的量子點光學(xué)調(diào)制器
- 基于里德堡原子斯塔克效應(yīng)的電場探測方法及裝置
- 基于冷里德堡原子干涉儀的微波電場強(qiáng)度計及其測量方法
- 一種具有應(yīng)變減少結(jié)構(gòu)的InGaN量子點LED外延結(jié)構(gòu)
- 一種基于斯塔克效應(yīng)的高壓工頻電壓測量方法與裝置
- 用于測量在電能傳輸導(dǎo)體中的電場和/或磁場的裝置
- 一種基于里德堡原子斯塔克效應(yīng)的電壓互感器
- 一種消除原子磁力儀中交流斯塔克效應(yīng)的加熱結(jié)構(gòu)及方法
- 基于量子限制斯塔克效應(yīng)的光開關(guān)
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





