[發明專利]引伸計校準裝置

有效

• 申請號: 201610122104.9
• 申請日: 2016-03-03
• 公開（公告）號: CN105651240B
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 曹久大;周兆豐;張平;朱超;葉錦成;項樑
• 申請（專利權）人: 重慶建設工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01B21/32
• 分類號: G01B21/32
• 代理公司: 重慶蘊博君晟知識產權代理事務所(普通合伙) 50223
• 代理人: 鄭勇

本發明公開了一種引伸計校準裝置，它可對各種電子式、機械式引伸計進行校準，可滿足0.2級以下的引伸計示值量值溯源要求。包括底座，底座上固定立柱，立柱上依次安裝光柵傳感器支承座、固定心軸支承座、可動心軸支承座和絲桿副支承座，光柵傳感器支承座上安裝光柵傳感器，固定心軸支承座上安裝固定心軸，可動心軸支承座上安裝可動心軸，絲桿副支承座上安裝交流伺服電機，交流伺服電機的轉軸與可動心軸通過絲桿副連接，可動心軸的上端固定同軸的測桿，該測桿間隙配合于固定心軸的軸向孔內形成導向，測桿的上端通過聯軸器與光柵傳感器的下端測頭固定連接，校準引伸計時，引伸計的一端連接固定心軸，另一端連接可動心軸。

技術領域

本發明設計涉及計量領域，特別是涉及一種引伸計校準裝置。

背景技術

引伸計是材料試驗機對材料試樣施加軸向力時，測量試樣變形的裝置，包括測量、指示或記錄系統。引伸計測量系統位移量值需要采用引伸計標定器定期校準，才能保證其測量準確度。對引伸計的校準就是將引伸計的讀數與引伸計標定器給定的已知長度的變化量進行比較，確定其示值誤差，保證材料試驗結果的正確性。根據國家計量技術規范JJF1096-2002引伸計標定器校準規范規定，引伸計標定器按測微裝置形式分為A類和B類。

A類標定器一般由螺旋副結構的測微頭實現位移，用安裝在標定器支架上的測微儀表(比較儀、測微計等)配合量塊進行測量，準確度高，可滿足 0.2級和0.5級微應變引伸計示值的量值溯源要求；B類標定器一般用測微頭同時實現位移，準確度低，可滿足1級和2級引伸計示值的量值溯源要求。

參見圖1，A類引伸計標定器是L型結構，主體是一個支撐平臺，在平臺右側中間部位安裝有立軸，作為支撐校準裝置各部件的支架。支架上、中、下三個部位分別垂直固定一個水平夾持機構，且在左端部同一軸線上，上、中、下部夾持機構均有一個通孔。

上部夾持機構通孔為圓形夾持孔，孔徑大小與校準裝置配備的測微儀表外徑相同，測微儀表穿過夾持孔并通過鎖緊螺栓固定在上面。測微儀表的上部位位移顯示表，有刻度和指針；下部為可上下移動的測頭，與指針具有聯動測量顯示位移功能。

中間夾持機構的通孔位與固定心軸外徑緊配合，將固定心軸固定在中間夾持夾持機構上。固定心軸中心是導向管，導向管中間為可動心軸，可動心軸上端裝有一測微工作臺，工作臺上表面與測微儀表的測微頭接觸，一般采用預緊位移，受到輕微表面接觸力作用。

導向管從固定心軸連接到可動心軸，起可動心軸移動時的導向作用?？蓜有妮S與固定心軸間存在一定的距離，隨可動心軸移動而調整。

下部夾持機構與上部夾持機構結構相同，通孔與測微頭連接軸外徑緊配合固定在夾持機構上。測微頭是螺旋幅結構，與可動心軸連接?？蓜有妮S安裝在螺旋絲桿上，測微頭是由可旋轉微分筒和固定絲桿組成，可手動旋轉微分筒產生順時針或逆時針旋轉，若微分筒順時針轉動可帶動絲桿軸向上移動，反之，微分筒逆時針轉動可帶動絲桿軸向上移動。微分筒表面有移動位移刻度顯示，能控制可動軸的上下移動位移。

校準時，被檢的引伸計兩測量臂鉤掛在可動心軸和固定心軸兩端，測微頭旋轉致使可動心軸上下移動，帶動被檢引伸計兩測量臂移動和測量移動位移，作為被檢引伸計示值；同時，可動心軸的上下移動使其上端工作平臺跟隨移動，測微儀表的測頭受工作臺移動變化，使顯示儀表同步測量顯示出可動軸的上下移動位移，作為標準位移值，由被檢引伸計示值減去標準位移值，即可得到引伸計該位移測量點的示值誤差，變化測量點，即可檢定引伸計各位移值的示值誤差，從而實現檢定的目的。

發明內容

本發明的目的在于針對現有技術的不足，提供一種引伸計校準裝置，它可對各種電子式、機械式引伸計進行校準，可滿足0.2級以下的引伸計示值量值溯源要求。

本發明的目的是這樣實現的：