[發明專利]一種斷路器失效概率評估方法

在審

• 申請號: 201610121221.3
• 申請日: 2016-03-03
• 公開（公告）號: CN105528742A
• 公開（公告）日: 2016-04-27
• 發明（設計）人: 于虹;王昕
• 申請（專利權）人: 云南電網有限責任公司電力科學研究院;上海交通大學
• 主分類號: G06Q50/06
• 分類號: G06Q50/06
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種斷路器失效概率評估方法，其特征在于，所述方法包括：

統計斷路器使用時間以及出現故障的概率，記作(t₁,λ₁),(t₂,λ₂),…,(t_n,λ_n)，其中,t 為斷路器累計使用的時間，λ為斷路器出現故障的概率，n為斷路器缺陷數據總數；

基于威布爾分布建立斷路器失效概率函數，記作其中，η為尺度參數，β 為形狀參數；

利用Marquardt法對所述斷路器失效概率函數的參數進行估計，獲得斷路器失效概率 的分布曲線函數；

通過所述分布曲線函數對斷路器全壽命周期的失效概率進行評估，得到斷路器壽命浴 盆曲線。

2.根據權利要求1所述的斷路器失效概率評估方法，其特征在于，所述方法還包括：

統計所述斷路器發生故障的各種影響因素，將所述斷路器發生故障的時間分為早期失 效期、偶然失效期及損耗失效期。

3.根據權利要求1所述的斷路器失效概率評估方法，其特征在于，所述利用Marquardt 法對所述斷路器失效概率函數的參數進行估計，獲得斷路器失效概率的分布曲線函數,具 體為，記a(η,β),將所述斷路器失效概率函數分別對參數β，η求偏導，

∂λ(ti)∂β=1η(tiη)β-1+βη(tiη)β-1ln(tiη),∂λ(ti)∂η=-βη2(tiη)β-1-βη2(tiη)β-1(β-1);]]>

選取(t₁,λ₁),(t₂,λ₂),…,(t_n,λ_n)中任意兩個數據點(t_d,λ(t_d))和(t_g,λ(t_g))，構建方程 組

βη(tdη)β-1=λ(td)βη(tgη)β-1=λ(tg),]]>求得a⁽⁰⁾＝(β⁽⁰⁾,η⁽⁰⁾)，

h11=Σi=1n[1η2(tiη)2(β-1)+2βη2(tiη)2(β-1)·ln(tiη)+β2η2(tiη)2(β-1)·ln2ln(tiη)]|a=a(0)]]>

h12=Σi=1n[-βη3(tiη)2(β-1)-βη3(tiη)2(β-1)·(β-1)-βη3(tiη)2(β-1)·ln(tiη)]|a=a(0)]]>

h₂₁＝h₁₂

h22=Σi=1n[β2η4(tiη)2(β-1)+2β2η4(tiη)2(β-1)·(β-1)+β2η4(tiη)2(β-1)·(β-1)2]|a=a(0)]]>

h1y=Σi=1n[(yi-βη(tiη)(β-1))·∂(ti)∂β]|a=a(0)]]>

h2y=Σi=1n[(yi-βη(tiη)(β-1))·∂(ti)∂η]|a=a(0),]]>記d＝d₀＝0.01h₁₁，可求得a值為

a=βη=β(0)η(0)+h11+d(0)d12d21d22+d(0)·h1yh2y.]]>