[發明專利]手機射頻性能測試方法

有效

• 申請號: 201610119534.5
• 申請日: 2016-03-02
• 公開（公告）號: CN105791498B
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: 曾元清
• 申請（專利權）人: 廣東歐珀移動通信有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24;H04B17/17;H04B17/29
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發明提供一種手機射頻性能測試方法，所述方法包括以下步驟：將雙工器與功率放大器之間的連接斷開，將綜測儀的第一測試端口與該功率放大器連接，將綜測儀的第二測試端口與測試座連接；綜測儀通過第一測試端口接收由收發機發射并經過該功率放大器放大的預定規格的第一信號，并根據該第一信號判斷該射頻模塊的發射性能是否正常；綜測儀通過第二測試端口發射預定規格的第二信號至收發機并接收由該收發機對應發射的第二反饋信號，根據該第二反饋信號判斷該收發機的接收性能是否正常。本發明改進了研發分析過程中手機在發射鏈路和接收鏈路拆開后，無法連接綜測儀的問題，為快速分析手機的射頻性能提供了保障，有效的節約了研發成本。

技術領域

本發明涉及通信領域，特別是涉及一種手機射頻性能測試方法。

背景技術

眾所周知，手機跟基站要有上行和下行(即發射和接收)信號才能建立通信連接。而手機設計中往往接收和發射使用同一個天線，這就要求我們射頻電路中發射和接收最后要合并到同一路電路，此時我們能用綜測儀(模擬基站)在測試座處對手機射頻性能進行測試(發射和接收使用同一端口)，如附圖1。但開發過程中經常需要強行將發射和接收分開進行性能排查，發射和接收分開后，測試座位置只有上行或下行的信號，此時綜測儀僅連接測試座位置已經不能跟手機建立連接了，導致手機性能不能測試。

發明內容

本發明實施例提供一種手機射頻性能測試方法；以解決現有技術中在將手機的發射鏈路和接收鏈路拆開進行性能排查時，綜測儀僅連接測試座無法與手機建立連接的問題。

本發明實施例提供一種手機射頻性能測試方法，應用綜測儀來測試，該手機的射頻模塊包括依次連接的收發機、功率放大器、雙工器、射頻開關、測試座以及天線,所述收發機與所述雙工器連接；其特征在于，所述方法包括以下步驟：

將雙工器與功率放大器之間的連接斷開，將綜測儀的第一測試端口與該功率放大器連接，將綜測儀的第二測試端口與測試座連接；

綜測儀通過第一測試端口接收由收發機發射并經過該功率放大器放大的預定規格的第一信號，并根據該第一信號判斷該射頻模塊的發射性能是否正常；

綜測儀通過第二測試端口發射預定規格的第二信號至收發機并接收由該收發機對應發射的第二反饋信號，根據該第二反饋信號判斷該收發機的接收性能是否正常；其中，該第二信號依次經過測試座以及射頻開關傳送至該發射機。

在本發明所述的手機射頻性能測試方法中，所述根據該第一信號判斷該射頻模塊的發射性能是否正常的步驟包括：

若該第一信號的規格與該綜測儀預先設置的規格的誤差在預設范圍內，則該射頻模塊的發射性能正常；

若該第一信號的規格與該綜測儀預先設置的規格的誤差超出預設范圍，則該射頻模塊的發射性能不正常。

在本發明所述的手機射頻性能測試方法中，在所述若該第一信號的規格與該綜測儀預先設置的規格的誤差超出預設范圍，則該收發機的發射性能不正常的步驟之后，還包括以下步驟：

恢復雙工器與功率放大器之間的連接，并將該收發機與該功率放大器之間的連接斷開，將該綜測儀的第一測試端口與該收發機連接；

綜測儀通過第一測試端口接收由收發機發射的預定規格的第三信號；

若第三信號滿足綜測儀預先設定的規格，則判定該功率放大器出現故障，而該收發機的發射性能正常；

若第三信號不滿足綜測儀預先設定的規格，則判定該收發機的發射性能不正常。

在本發明所述的手機射頻性能測試方法中，所述根據該第二反饋信號判斷該收發機的接收性能是否正常的步驟包括：

若該第二反饋信號滿足預設條件，則該射頻模塊的接收性能正常；

若該第二反饋信號不滿足預設條件，則該射頻模塊的接收性能不正常。