[發明專利]一種電氣設備缺陷檢測用紫外雙光譜檢測儀

在審

• 申請號: 201610111029.6
• 申請日: 2016-03-01
• 公開（公告）號: CN107144768A
• 公開（公告）日: 2017-09-08
• 發明（設計）人: 李東江
• 申請（專利權）人: 李東江
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01J3/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.電氣設備缺陷檢測用紫外雙光譜檢測儀其權利特征如下：

1.紫外/可見光雙光譜探測光學子系統設計技術；

光子成像計數技術可以解決對極其微弱的光信號成像的問題。在強光信號激勵下，光電陰極發射的光電子很多，這些光電子經倍增管和信號放大電路后產生的脈沖互相重疊，輸出信號為這些脈沖信號的集合。當光信號較弱時，對應每個光子產生的輸出脈沖互相獨立，光信號可用脈沖計數法測量，即每秒脈沖數。當使用的探測器是二維成像器件時稱為計數成像。

2.紫外傳感器(紫外透鏡、日盲濾光片、日盲ICCD探測器等)設計技術；

紫外通道僅對放電發光區域進行成像，看不到場景，為了能定位放電位置，采用了圖像融合算法將紫外圖像疊加到了可見光圖像上，從而顯示出放電位置。

3.基于FPGA和DSP的圖像雙光譜圖像檢測硬件平臺的設計技術；

CCD驅動時序可以采用直接數字電路、單片機、EPREOM、微處理器或數字信號處理器(DSP)和可編程器件產生。FPGA是第4代可編程器件，它將定制ASIC的高集成度、高性能的優點與可編程器件靈活性優點結合在一起，從而避免了定制ASIC的高成本、高風險、長設計周期和可編程器件密度低的缺點。

4.基于小波變換的適合雙光譜圖像檢測系統的圖像融合技術；

圖像融合是采用某種算法對兩幅或多幅不同的圖像進行綜合與處理，最終形成一幅新的圖像。根據融合處理所處的不同階段，圖像融合的處理通常可在以下三個不同層次上進行：像素級融合、特征級融合和判決級融合。