[發明專利]一種植被光譜特征吸收峰自動識別方法在審
| 申請號: | 201610107562.5 | 申請日: | 2016-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN105651717A | 公開(公告)日: | 2016-06-08 |
| 發明(設計)人: | 李喆;古春;郭旭東 | 申請(專利權)人: | 成都市國土規劃地籍事務中心 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31 |
| 代理公司: | 成都泰合道知識產權代理有限公司 51231 | 代理人: | 向晟;孫恩源 |
| 地址: | 610071 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 植被 光譜 特征 吸收 自動識別 方法 | ||
1.一種植被光譜特征吸收峰自動識別方法,其特征在于,該方法包括如下步驟:
(1)、以微分法對原始光譜曲線進行前置處理,對原始光譜曲線波段上各采樣點按公式: 計算其二階微分量,從而得到二階微分曲線,并利用二階微分曲線對 原始光譜曲線進行去噪預處理,其中,λι代表波段上第i個采樣點的波長;Ri代表波段上第i 個采樣點的原始光譜反射率;SDRi代表波段上第i個采樣點的二階微分, i=1,2......N,N為樣本點數,即二階微分曲線在波段上的總點數;
(2)、對噪音去除后的光譜曲線去包絡線處理,得到去包絡線光譜曲線;
(3)、微分法遍歷去包絡線光譜曲線的吸收峰峰值點及其左右肩;
(4)、吸收峰吸收特征強度計算。
2.根據權利要求1所述的一種植被光譜特征吸收峰自動識別方法,其特征在于,所述步 驟(1)的去噪預處理具體包括以下步驟:
如果二階微分曲線在波段上某采樣點的數值小于或等于反射率,即SDRi≤Ri,則該采 樣點為真實曲線所經過的點(λι,Ri),將其保留;反之,如果該采樣點的值大于反射率,即 SDRi>Ri,則為噪聲,將其去掉;對于波段上保留的采樣點進行平滑操作,根據下式重新計 算波段上保留的采樣點的反射率,
其中,w是窗口選擇的點的個數,N是樣本點數,即二階微分曲線在波段上的總點數。
3.根據權利要求2所述的一種植被光譜特征吸收峰自動識別方法,其特征在于,所述步 驟(2)具體包括以下步驟:
設所述去噪預處理后得到的Ri組成數組Ri,i=1,2......N;
波段上的采樣點波長組成數組λi,i=1,2......N;
A.i:=1,將R1,λ1加入到包絡線節點表中;
B.求新的包絡節點,如i=N,則結束,否則j:=i+1;
C.連接i,j;檢查(i,j)直線與反射率曲線的交點,如果j=N則結束,將Rj,λj加入到包 絡線節點表中,否則:
a.m:=j+1;
b.如果m=N則完成檢查,j是包絡線上的點,將Rj,λj加入到包絡線的節點表中,i=j
轉到B;
c.否則,求i,j與λm的交點R1m;
d.如果Rm<R1m,則j不是包絡線上的點,j:=j+1轉到B;如果Rm≤R1m則i,j與光 譜曲線最多有一個交點,m:=m+1,轉到b;
D.得到光譜曲線的包絡線節點后,將相鄰的節點用直線段依次相連,求出 λi,i=1,2......N所對應的折線段上的點的函數值hi,i=1,2......N,從而得到該光譜曲 線的包絡線,顯然有Ri≤hi;
E.對求出的包絡線按公式i=1,2......N對光譜曲線進行包絡線消除。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于成都市國土規劃地籍事務中心,未經成都市國土規劃地籍事務中心許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610107562.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





